特許
J-GLOBAL ID：200903021496446154

放射線画像撮影装置及び画像処理装置

発明者：
青山 達也

青山 達也 について


出願人/特許権者：
富士フイルム株式会社

富士フイルム株式会社 について


代理人 (4件)： 中島 淳 ,  加藤 和詳 ,  西元 勝一 ,  福田 浩志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-047367
公開番号（公開出願番号）：特開2009-201736
出願日： 2008年02月28日
公開日（公表日）： 2009年09月10日
要約：
【課題】欠陥画素の周辺にアーチファクトが発生することを抑制することができる放射線画像撮影装置及び画像処理装置を提供する。【解決手段】HDD58に、X線検出素子20の不良な部分に対応して放射線画像に生じる欠陥画素の位置を示す欠陥画素情報を予め記憶させておき、HDD58に記憶された欠陥画素情報を加味してX線検出素子20により撮像された放射線画像から欠陥画素の影響を低減しつつグリッドにより当該放射線画像に生じる周期的パターンを除去する画像処理を行う。【選択図】図6
請求項（抜粋）：
放射線に対して感度を有し、受像面に照射された放射線が示す放射線画像を撮像する撮像手段と、 前記受像面の前記放射線が照射される照射面側に配置され、放射線の吸収率が大きい吸収部と放射線の吸収率が小さい透過部とが交互に設けられて前記放射線が被写体を透過した際に発生する当該放射線の散乱成分を除去するグリッドと、 前記撮像手段の不良な部分に対応して前記放射線画像に生じる欠陥画素の位置を示す欠陥画素情報を予め記憶する記憶手段と、 前記記憶手段に記憶された欠陥画素情報を加味して前記撮像手段により撮像された放射線画像から欠陥画素の影響を低減しつつ前記グリッドにより当該放射線画像に生じる周期的パターンを除去する画像処理を行う画像処理手段と、 を備えた放射線画像撮影装置。
IPC (5件)：
A61B 6/00 ,  H04N 5/32 ,  H04N 5/335 ,  G01N 23/04 ,  A61B 6/06
FI (5件)：
A61B6/00 350Z ,  H04N5/32 ,  H04N5/335 P ,  G01N23/04 ,  A61B6/06 330
Fターム (22件)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA09 ,  2G001FA06 ,  2G001GA12 ,  2G001HA13 ,  4C093CA06 ,  4C093CA13 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093EB24 ,  4C093FD05 ,  4C093FD13 ,  4C093FF03 ,  4C093FF09 ,  5C024AX12 ,  5C024CX23 ,  5C024GY31 ,  5C024HX04 ,  5C024HX57
引用特許：
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (4件)
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