計測誤差補償用不揮発メモリを有する計測装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：大川宏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-328162
公開番号（公開出願番号）：特開平11-164486
出願日： 1997年11月28日
公開日（公表日）： 1999年06月18日
要約：

【要約】【課題】構成の複雑化を抑止しつつ優れた計測誤差精度を有する計測誤差補償用不揮発メモリを有する計測装置を提供すること。【解決手段】計測部721の検出誤差を補償する補償値は、不揮発メモリからなる記憶部の3箇所以上の記憶領域にそれぞれ記憶され、読み出しに際しては各記憶領域から読み出されたデ-タがCPU7222でいわゆる多数決処理されて多数決補償値(多数決処理済み補償値)として出力される。本発明では、同一の補償値を記憶する各記憶領域が、アドレスバス及びデ-タバスを共用するそれぞれ異なる不揮発メモリチップ7223〜7225に分散して記憶される。すなわち、多数決処理される同一内容の補償値を異なるチップに分散させているので、チップの記憶領域の不良のみならず、それ以外の各種のチップ動作不良をも補償することができるという作用効果を奏することができる。

請求項（抜粋）：

入力される物理量を電気信号である検出信号量に変換する計測部と、前記計測部の検出誤差を補償する補償値を記憶する不揮発メモリからなる記憶部と、前記検出信号量の誤差を補償する補償値を抽出して前記不揮発メモリに記憶させると共に前記検出信号量を前記補償値で補正した補正信号量自体又は前記補正信号量に基づいて変化する所定の出力信号を形成して外部に出力する演算部とを備える計測誤差補償用不揮発メモリを有する計測装置において、前記記憶部は、3個以上の書き込み可能な不揮発メモリチップからなり、前記演算部は、同一の補償値を前記各不揮発メモリチップの全てに順次又は同時に記憶させ、前記各不揮発メモリチップの同一の補償値を記憶する補償値記憶領域のデータを順次読み出し、読み出した各データを多数決処理して多数決補償値を形成し、前記検出信号量を前記多数決補償値で補正した補正信号量自体又は前記補正信号量に基づいて変化する所定の出力信号を形成して外部に出力することを特徴とする計測誤差補償用不揮発メモリを有する計測装置。

IPC (4件)：

H02J 7/00 , G01R 31/28 , G01R 31/36 , G06F 12/16 310

FI (4件)：

H02J 7/00 X , G01R 31/36 A , G06F 12/16 310 L , G01R 31/28 V

引用特許：

審査官引用 (9件)

電子機器
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-288833 出願人：ソニー株式会社
特開昭62-213000
冗長回路システム
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-280388 出願人：イビデン株式会社

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