特許
J-GLOBAL ID:200903021592307416

クリーンルーム及び半導体装置の製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 前田 弘 (外7名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-292843
公開番号(公開出願番号):特開2002-250552
出願日: 2001年09月26日
公開日(公表日): 2002年09月06日
要約:
【要約】【課題】 半導体基板が配置されている領域に存在する浮遊パーティクルを低減する。【解決手段】 クリーンルーム10は、半導体製造装置13に投入される半導体基板を収納したカセット14が配置される第1のクリーン領域10aと、作業者16が作業を行なう第2のクリーン領域10bとからなる。第1のクリーン領域10aと第2のクリーン領域10bとの間には板状のアイリッド11が設けられている。第1のクリーン領域10aにおいて上方から下方に向かう第1の気流の速度は、第2のクリーン領域10bにおいて上方から下方に向かう第2の気流の速度よりも大きい。
請求項(抜粋):
製造装置に投入される半導体基板が配置される第1のクリーン領域と、前記第1のクリーン領域に隣接して設けられ作業者が配置される第2のクリーン領域とを備え、前記第1のクリーン領域には、上方から下方に向かう第1の気流が導入され、前記第2のクリーン領域には、上方から下方に向かう第2の気流が導入され、前記第1の気流の速度は前記第2の気流の速度よりも大きいことを特徴とするクリーンルーム。
IPC (2件):
F24F 7/06 ,  H01L 21/02
FI (2件):
F24F 7/06 C ,  H01L 21/02 D
Fターム (7件):
3L058BD00 ,  3L058BE02 ,  3L058BF01 ,  3L058BF05 ,  3L058BF06 ,  3L058BG01 ,  3L058BG04
引用特許:
審査官引用 (10件)
  • 特開平2-213633
  • クリーンルーム
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平7-003107   出願人:株式会社竹中工務店, 松下電器産業株式会社
  • 特開昭63-099434
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