特許
J-GLOBAL ID：200903021651057992
プリント基板検査方法と検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐々木 功 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-338530
公開番号（公開出願番号）：特開平6-186271
出願日： 1992年12月18日
公開日（公表日）： 1994年07月08日
要約：
【要約】【目的】 プリント基板の回路の断線若しくは、ICや抵抗・コンデンサ等の電子部品が実装されたプリント基板における前記電子部品の有無、抵抗値その他の性能を検査する方法に関し、プリント基板のソリを矯正してプリント基板の検査方法することを目的とする。【構成】 プリント基板2の両端縁部を把持装置3にて把持し、該把持装置3で前記プリント基板2に引張応力を加えて当該プリント基板2のソリを矯正し、所望の検査を行うプリント基板2の検査方法に存する。
請求項（抜粋）：
プリント基板の両端縁部を把持装置にて把持し、該把持装置で前記プリント基板に引張応力を加えて当該プリント基板のソリを矯正し、所望の検査を行うことを特徴としてなるプリント基板の検査方法。
IPC (3件)：
G01R 31/02
, H05K 3/00
, H05K 13/08
