特許
J-GLOBAL ID:200903021824509460
蛍光寿命の測定装置及び方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (5件):
廣江 武典
, 武川 隆宣
, ▲高▼荒 新一
, 中村 繁元
, 西尾 務
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-520003
公開番号(公開出願番号):特表2007-530916
出願日: 2004年07月15日
公開日(公表日): 2007年11月01日
要約:
蛍光寿命を測定する方法であって、少なくとも1つの蛍光発光団を含むサンプルを光で照射して蛍光を励起させるステップと、励起光の強度を第1強度I1と第2強度I2との間で反復して切り替えるステップとを含んでいる。サンプルの蛍光によって発生する光を検出し、検出光信号を発生させる。検出光信号は反復して切り替えられ、第1部分と第2部分とに分割され、第1と第2部分のそれぞれで検出された光の量を、第1発光値S1と第2発光値S2を得るため測定する。第1及び第2発光値S1とS2から蛍光寿命を決定する。
請求項(抜粋):
蛍光寿命の測定方法であって、本方法は、
少なくとも1つの蛍光発光団を含むサンプルを光で照射して蛍光を励起させるステップと、
前記励起光の強度を第1強度I1と第2強度I2との間で反復して切り替えるステップと、
前記サンプルの蛍光によって発生する光を検出し、検出光信号を発生させるステップと、
該検出光信号を反復して切り替え、第1部分と第2部分へと分割するステップと、
前記第1部分と前記第2部分のそれぞれで検出された光の量を測定し、第1発光値S1と第2発光値S2とを得るステップと、
該第1発光値S1と第2発光値S2とから蛍光寿命を決定するステップと、
を含んでいる測定方法。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (11件):
2G043AA03
, 2G043BA16
, 2G043DA02
, 2G043EA01
, 2G043FA02
, 2G043FA03
, 2G043HA01
, 2G043HA02
, 2G043JA03
, 2G043KA09
, 2G043LA01
引用特許:
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