特許
J-GLOBAL ID：200903021857439077
粒状体及び連続体の解析方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
中島 淳
, 加藤 和詳
, 西元 勝一
, 福田 浩志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-191135
公開番号（公開出願番号）：特開2004-037114
出願日： 2002年06月28日
公開日（公表日）： 2004年02月05日
要約：
【課題】計算時間を大幅に短縮することができると共に精度良く粒状体及び連続体の挙動を解析することができる粒状体及び連続体の解析方法を提供する。【解決手段】第1の接触力算出部12は、粒状体としての地盤要素及び地盤内の連続体としての杭の挙動をDEMにより解析し、地盤要素同士の第1の接触力を算出する。第2の接触力算出部14は、地盤要素が杭に及ぼす第2の接触力を算出する。接触力集約部16は、第2の接触力を杭の節点要素に集約して第3の接触力を算出する。変位算出部18は、杭に接触する地盤要素を地盤バネで表し、この地盤バネのバネ定数を算出する。そして、このバネ定数と第3の接触力とに基づいて節点要素の変位を求める。収束判定部20は、節点要素の変位が収束しない場合には、その変位が収束するまで収束ループ計算を行う。収束条件を満たす場合には、次の時間ステップの処理を行う。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
複数の粒状体である個別要素と当該複数の個別要素中に設けられた連続体である構造物との挙動を解析する粒状体及び連続体の解析方法であって、
前記複数の個別要素同士の第1の接触力を個別要素法により各々算出する第1ステップと、
複数の構造物要素及び当該複数の構造物要素同士を接続する節点要素から構成された前記構造物と前記個別要素との第2の接触力を個別要素法により各々算出する第2ステップと、
前記第2の接触力の各々を前記節点要素に集約した第3の接触力を算出する第3ステップと、
前記構造物要素及び前記節点要素に前記第2の接触力を及ぼす個別要素をバネとして表した時の前記バネのバネ定数を前記第2の接触力に基づいて算出する第4ステップと、
前記第3の接触力と前記バネ定数とに基づいて、前記節点要素と前記バネとが釣り合うと仮定した時の前記節点要素の変位を算出する第5ステップと、
前記変位が予め定めた収束条件を満たさない場合には、前記第5ステップで求めた変位のもとで前記収束条件を満たすまで前記第2ステップ〜第5ステップの処理を繰り返し、前記変位が予め定めた収束条件を満たす場合には、前記第5ステップで求めた変位のもとで前記第1ステップ〜第5ステップの処理を繰り返すことを特徴とする粒状体及び連続体の解析方法。
IPC (3件)：
G01M19/00
, E02D27/12
, E02D33/00
G01M19/00 Z
, E02D27/12 Z
, E02D33/00
2D046CA01
, 2G024AD34
, 2G024BA13
, 2G024BA17
, 2G024BA24
, 2G024CA04
, 2G024CA11
, 2G024DA01
, 2G024FA06
