特許

J-GLOBAL ID：200903021944952899

X線回折測定方法及びX線回折装置

発明者： 小林 勇二 ,  土性 明秀
出願人/特許権者： 理学電機株式会社
代理人 (1件)： 横川 邦明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-248699
公開番号（公開出願番号）：特開平10-073545
出願日： 1996年08月29日
公開日（公表日）： 1998年03月17日
要約：

【要約】【課題】 液体試料に関して信頼性の高い測定結果を安定して得ることができるX線回折測定方法を提供する。【解決手段】 液体試料SにX線を照射したときにその試料Sから発生する回折X線をX線カウンタ5によって検出するX線回折装置であって、下面がX線を透過可能な材料によって形成されていて液体試料Sを収納する試料ホルダ15と、試料ホルダ15を水平に支持する試料支持台11と、試料軸線ωを中心として回転すると共にX線管9を支持するX線管アーム12とを有するX線回折装置である。X線管9は、付属の電力ケーブル22がX線管アーム12の上方へ延びるようにX線管アーム12に取り付けられる。試料Sの下方位置に広い空間が確保できるので、X線管アーム12を試料Sの下方へ大きくθ回転できる。

請求項（抜粋）：

試料にX線を照射したときにその試料から発生する回折X線をX線検出手段によって検出するようにしたX線回折測定方法において、試料を水平に配置し、その試料の下面にX線を照射することを特徴とするX線回折測定方法。

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開平2-218945
  
• 試料位置決め機構
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-005275   出願人：株式会社マックサイエンス