特許
J-GLOBAL ID：200903022143980480

露出計

発明者：
後藤 泰史

後藤 泰史 について

, 
湯浅 良男

湯浅 良男 について


出願人/特許権者：
ミノルタ株式会社

ミノルタ株式会社 について


代理人 (1件)： 小谷 悦司 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-280381
公開番号（公開出願番号）：特開2002-090791
出願日： 2000年09月14日
公開日（公表日）： 2002年03月27日
要約：
【要約】【課題】 入射光式と反射光式の両方で露出測定が可能であり、かつ入射光式による測定値と反射光式による測定値とを簡単に比較することができる露出計を提供する。【解決手段】 入射光式と反射光式の両方で露出測定が可能な露出計において、入射光式による測定値A1と反射光式による測定値R1とを対比可能に合わせて表示する表示部6を有する構成とする。
請求項（抜粋）：
入射光式と反射光式の両方で露出測定が可能な露出計であって、入射光式による測定値と反射光式による測定値とを対比可能に合わせて表示する表示手段を有することを特徴とする露出計。
IPC (4件)：
G03B 7/08 101 ,  G01J 1/02 ,  G01J 1/44 ,  G03B 17/18
FI (5件)：
G03B 7/08 101 ,  G01J 1/02 E ,  G01J 1/44 H ,  G01J 1/44 B ,  G03B 17/18 A
Fターム (15件)：
2G065AA08 ,  2G065AB04 ,  2G065AB17 ,  2G065BC13 ,  2G065BC15 ,  2G065BC28 ,  2G065BD02 ,  2G065BD04 ,  2G065BD05 ,  2G065BD06 ,  2G065DA01 ,  2G065DA15 ,  2G065DA18 ,  2H002DB21 ,  2H102AA01
引用特許：
審査官引用 (3件)

前のページに戻る

TOP

BOTTOM