複合型磁気ヘッドの検査方法及び装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：山本恵一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-294725
公開番号（公開出願番号）：特開2000-113430
出願日： 1998年10月02日
公開日（公表日）： 2000年04月21日
要約：

【要約】【目的】出力不安定性の検査を容易にかつ確実に行うことができる複合型磁気ヘッドの検査方法及び装置を提供する。【構成】 MR素子のシールド層の初期磁化状態を変える電流をインダクティブ素子に流し、MR素子の出力特性を測定する

請求項（抜粋）：

磁気抵抗効果素子及びインダクティブ素子を備えた複合型磁気ヘッドの検査方法であって、前記磁気抵抗効果素子のシールド層の初期磁化状態を変える電流を前記インダクティブ素子に流し、前記磁気抵抗効果素子の出力特性を測定することを特徴とする複合型磁気ヘッドの検査方法。

IPC (2件)：

G11B 5/455 , G11B 5/39

FI (2件)：

G11B 5/455 C , G11B 5/39

Fターム (6件)：

5D034BA02 , 5D034BB03 , 5D034BB09 , 5D034BB12 , 5D034BB14 , 5D034CA04

引用特許：

出願人引用 (1件)

審査官引用 (1件)

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