特許
J-GLOBAL ID：200903022289199801

OTDR装置

発明者：
茂原 政一

茂原 政一 について

, 
井上 享

井上 享 について


出願人/特許権者：
住友電気工業株式会社

住友電気工業株式会社 について


代理人 (4件)： 長谷川 芳樹 ,  塩田 辰也 ,  寺崎 史朗 ,  柴田 昌聰
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-022087
公開番号（公開出願番号）：特開2004-198435
出願日： 2004年01月29日
公開日（公表日）： 2004年07月15日
要約：
【課題】 Fading Noiseを十分に抑えて、精度の高いOTDR試験を行うことのできるOTDR装置を提供する。【解決手段】 本発明のOTDR装置100aは、OTDR試験用の検査光を出力する検査光光源1aを備えている。この検査光光源は、半導体発光素子10と、この半導体発光素子から出射した光が入射する位置に配置され、反射波長幅が約1nm以上の回折格子35が所定部位に設けられた光導波路30とを有している。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
OTDR試験用の検査光を出力する検査光光源を備えたOTDR装置であって、 前記検査光光源は、 光出射面及びこの光出射面と対向する光反射面を有する半導体発光素子と、 前記半導体発光素子の前記光出射面から出射した光が入射する位置に配置され、屈折率が光軸に沿って周期的に変化している回折格子であって、反射波長幅が1nm以上のものが所定部位に設けられた光導波路と、 を備えて、前記半導体発光素子の前記光反射面と前記回折格子との間でレーザ共振器を構成する、 ことを特徴とするOTDR装置。
IPC (3件)：
G01M11/00 ,  H01S5/14 ,  H04B10/08
FI (3件)：
G01M11/00 R ,  H01S5/14 ,  H04B9/00 K
Fターム (11件)：
2G086CC03 ,  5F073AB28 ,  5F073BA09 ,  5F073EA27 ,  5K102AA46 ,  5K102LA06 ,  5K102LA13 ,  5K102LA15 ,  5K102LA22 ,  5K102LA38 ,  5K102PC02
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • OTDR装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-190053   出願人：古河電気工業株式会社
審査官引用 (2件)
  • 光パルス試験器
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-124449   出願人：日本電信電話株式会社
  • 光発生装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-028746   出願人：松下電器産業株式会社

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