特許
J-GLOBAL ID：200903022309766660
イオントラップ型質量分析装置及び方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-118158
公開番号（公開出願番号）：特開2002-313276
出願日： 2001年04月17日
公開日（公表日）： 2002年10月25日
要約：
【要約】【課題】 無駄な時間を要することなく、イオン種に依らず高効率に解離させ、高感度MS/MS分析可能なイオントラップ型質量分析装置及び方法を提供すること。【解決手段】 解離対象イオンの質量数或いは特性に応じて、CID電圧を印加する時間を、解離対象のイオンの質量対電荷比に比例させて長くする。【効果】 特定イオン種を解離する為に重畳印加する補助交流電圧の印加時間を最適化することにより、解離対象イオンを高効率に解離し、無駄時間なく解離イオンの高感度分析を可能にする。
請求項（抜粋）：
イオンを生成するイオン源と、このイオンを捕捉する電極間空間を形成するイオントラップ電極と、特定周波数を持つ補助交流電界を前記電極間空間に発生する手段と、前記電極間空間から出射したイオンを検出する手段を備えたイオントラップ型質量分析装置において、前記特定周波数を持つ補助交流電界の印加時間を,解離するイオン種に応じて変更する手段を備えたことを特徴とするイオントラップ型質量分析装置。
IPC (3件)：
H01J 49/42
, G01N 27/62
, H01J 49/36
H01J 49/42
, G01N 27/62 G
, G01N 27/62 L
, H01J 49/36
5C038JJ06
, 5C038JJ07
, 5C038JJ11
