パターン認識方法、それに用いられる教示データ生成方法およびパターン認識装置

発明者： ,
出願人/特許権者： ,
代理人 (1件)：山内康伸
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-228392
公開番号（公開出願番号）：特開2006-048370
出願日： 2004年08月04日
公開日（公表日）： 2006年02月16日
要約：

【課題】欠陥データを生成して不足分を補い認識率を高めるパターン認識方法と、それに用いる教示データの生成方法を提供する。【解決手段】教示ファイルに格納されている多数の教示データに基づいて学習し、パターン認識して欠陥判定をする外観検査装置であって、一のデータを変形して新たな教示データを生成する教示データ生成装置40を備えており、教示ファイル35中の多数の教示データのうち、データ数の少ない特定の教示データについては、その特定の教示データを変形して新たな教示データを生成し、その生成された教示データを前記教示ファイルに補充して欠陥認識させる。生成すべき教示データが画像データであるときは、画像の拡大、縮小、回転を含むアフィン変換と、明るさ、コントラスト、エッジ強度を含む属性変換を行うことにより、新たな教示データを生成する。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

教示ファイルに格納されている多数の教示データに基づいて学習し、パターン認識をするパターン認識方法であって、前記教示ファイル中の多数の教示データのうち、データ数の少ない特定の教示データについては、その特定の教示データを変形して生成した新たな教示データを補充してパターン認識させることを特徴とするパターン認識方法。

IPC (4件)：

G06T 7/00 , G01N 21/88 , G06N 3/00 , G06T 1/00

FI (4件)：

G06T7/00 350B , G01N21/88 J , G06N3/00 560C , G06T1/00 310A

Fターム (50件)：

2G051AA32 , 2G051AA34 , 2G051AA37 , 2G051AB02 , 2G051AC21 , 2G051CA04 , 2G051EA11 , 2G051EA12 , 2G051EC01 , 2G051ED21 , 5B057AA11 , 5B057BA02 , 5B057BA29 , 5B057CA02 , 5B057CA08 , 5B057CA12 , 5B057CA16 , 5B057CB02 , 5B057CB08 , 5B057CB12 , 5B057CB16 , 5B057CC01 , 5B057CD02 , 5B057CD03 , 5B057CD05 , 5B057CE03 , 5B057CE04 , 5B057CE11 , 5B057DA03 , 5B057DB02 , 5B057DC04 , 5B057DC09 , 5B057DC22 , 5B057DC33 , 5B057DC36 , 5L096BA03 , 5L096BA18 , 5L096CA02 , 5L096CA14 , 5L096EA39 , 5L096EA43 , 5L096FA06 , 5L096FA25 , 5L096FA59 , 5L096FA64 , 5L096FA67 , 5L096GA55 , 5L096HA07 , 5L096HA11 , 5L096KA04

引用特許：

出願人引用 (1件)

欠陥パターン種別判定方法およびその装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-126645 出願人：株式会社ヒューテック, 香川大学長

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