特許
J-GLOBAL ID:200903022359207173

廃棄物の分別装置および分別方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 原 謙三
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-115336
公開番号(公開出願番号):特開2002-310952
出願日: 2001年04月13日
公開日(公表日): 2002年10月23日
要約:
【要約】【課題】 表面の一部に特定元素を含有する廃棄物と表面に特定元素を含有しない廃棄物との分別、特に、廃棄物を分別する使用済の電気・電子製品を解体・分別して廃回路基板を取出す作業において混在することが避けられない鉛含有半田を含む廃回路基板と鉛フリー半田を用いた廃回路基板との分別を正確に行うことができる廃棄物の分別装置および分別方法を提供する。【解決手段】 廃回路基板10表面を蛍光X線分析装置32で分析し、その分析結果に基づいて鉛の含有の有無を判定し、鉛を含有する廃回路基板10と表面に特定元素を含有しない廃棄物とを分別する。また、蛍光X線分析装置32による測定中に、廃回路基板10をベルトコンベア18で移動させる。さらに、蛍光X線分析装置32に、複数のX線照射装置21および複数の蛍光X線検出装置22を設け、これらをベルトコンベア18の移動方向および廃回路基板10の法線と垂直な方向に沿って配列する。
請求項(抜粋):
表面の一部に特定元素を含有するものと表面に特定元素を含有しないものとが混在した廃棄物を分別する分別装置であって、上記廃棄物表面にX線を照射し、上記廃棄物表面から放射された蛍光X線の強度をエネルギー毎または波長毎に測定するための蛍光X線分析装置と、上記蛍光X線分析装置で測定された特定元素に対応するエネルギーまたは波長を持つ蛍光X線の強度に基づいて、特定元素の含有の有無を判定する判定手段と、上記判定手段による判定結果に従って、上記廃棄物を、表面に特定元素を含有する廃棄物と表面に特定元素を含有しない廃棄物とに分別する分別手段とを備えると共に、上記蛍光X線分析装置による測定中に、上記廃棄物と上記蛍光X線分析装置とを所定の方向に相対移動させる移動手段を備え、上記蛍光X線分析装置は、上記廃棄物表面から放射された蛍光X線を検出するための蛍光X線検出装置を複数備えると共に、上記廃棄物表面にX線ビームを照射するためのX線照射装置を複数備え、これらX線照射装置および蛍光X線検出装置はそれぞれ、上記相対移動の方向および上記廃棄物表面の法線と交差する方向に沿って配列されていることを特徴とする廃棄物の分別装置。
IPC (2件):
G01N 23/223 ,  B07C 5/34
FI (2件):
G01N 23/223 ,  B07C 5/34
Fターム (22件):
2G001AA01 ,  2G001AA10 ,  2G001BA04 ,  2G001DA06 ,  2G001JA12 ,  2G001LA20 ,  2G001NA11 ,  2G001NA17 ,  2G001PA11 ,  2G001QA10 ,  3F079AD06 ,  3F079BA12 ,  3F079CA38 ,  3F079CB07 ,  3F079CB25 ,  3F079CB33 ,  3F079CC04 ,  3F079CC13 ,  3F079DA12 ,  3F079DA31 ,  3F079EA10 ,  3F079EA15
引用特許:
審査官引用 (3件)

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