部材の識別装置及び識別方法

発明者： , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：鈴江武彦 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-073883
公開番号（公開出願番号）：特開平10-267868
出願日： 1997年03月26日
公開日（公表日）： 1998年10月09日
要約：

【要約】【課題】本発明の課題は、廃棄物を中心とした部材を非破壊で連続識別する迅速、高精度、経済的な部材の識別装置及び識別方法を提供することにある。【解決手段】本発明は、空気中において、部材3に一次X線6を照射するためのX線照射装置5と、前記部材3から発生する固有X線7を検出するための検出装置8とを有する検査室1と、該検査室1の手前に設置され前記部材3表面を清浄化する清浄化装置4と、該検査室1に前記部材3を輸送するため、前記検査室1を貫通するようにして設置されたベルトコンベア2と、前記検出装置8からの検出情報を解析するための解析装置10と、該解析装置10からの解析情報を処理するための制御装置12と、該制御装置12からの制御信号に応じて、前記部材3を前記ベルトコンベア2上から除去するための除去装置14とを具備する。

請求項（抜粋）：

空気中において、部材に一次X線を照射するためのX線照射装置と、前記部材から発生する固有X線を検出するための検出装置とを有する検査室と、該検査室の手前に設置され前記部材表面を清浄化する清浄化装置と、該検査室に前記部材を輸送するため、前記検査室を貫通するようにして設置されたベルトコンベアと、前記検出装置からの検出情報を解析するための解析装置と、該解析装置からの解析情報を処理するための制御装置と、該制御装置からの制御信号に応じて、前記部材を前記ベルトコンベア上から除去するための除去装置とを具備することを特徴とする部材の識別装置。

IPC (2件)：

G01N 23/223 , B09B 5/00 ZAB

FI (2件)：

G01N 23/223 , B09B 5/00 ZAB Q

引用特許：

出願人引用 (3件)

貴金属真贋検査方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-192594 出願人：セイコー電子工業株式会社
特開昭48-026198
特開昭53-060286

審査官引用 (3件)

貴金属真贋検査方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-192594 出願人：セイコー電子工業株式会社
特開昭48-026198
特開昭53-060286

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