特許
J-GLOBAL ID：200903022571244097
光リフレクトメトリ測定方法および装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (5件)：
鈴江 武彦
, 河野 哲
, 小出 俊實
, 蔵田 昌俊
, 石川 義雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-240498
公開番号（公開出願番号）：特開2008-064503
出願日： 2006年09月05日
公開日（公表日）： 2008年03月21日
要約：
【課題】C-OFDRによる測定を高い距離分解能で実施することの可能な光リフレクトメトリ測定方法および光リフレクトメトリ測定装置を提供すること。【解決手段】コヒーレント光源1の周波数掃引の非直線性をモニタするモニタリング部12を設け、そのモニタの結果に基づいて測定部11における測定結果を補正するようにしている。すなわち、モニタリング部12において自己遅延ホモダイン検波により光源出力光のモニタリングビート信号を生じさせ、サンプリング部16によりその波形をサンプリングする。その波形を示す連続関数R(t)を解析し、ゼロクロス点を求める。また測定部11における干渉ビート信号をサンプリングして得た連続関数にR(t)のゼロクロス点を代入し、得られた数列にFFT処理を施して測定結果を得る。【選択図】 図4
請求項（抜粋）：
光周波数を掃引されるコヒーレント光源からの出力光を測定対象に入射してこの測定対象における反射率の伝播方向に対する分布を測定するコヒーレント光周波数領域リフレクトメトリ測定方法(C-OFDR)である光リフレクトメトリ測定方法において、
前記出力光の特性をモニタし、
前記出力光と前記測定対象からの後方散乱光との干渉ビート信号を検出し、
前記光周波数掃引の非直線性を前記モニタした特性に基づき補正して前記干渉ビート信号に基づく測定結果を得ることを特徴とする光リフレクトメトリ測定方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (3件)：
2G086CC01
, 2G086CC04
, 2G086CC07
