特許
J-GLOBAL ID:200903022708520062
光検出装置および光学システム
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件):
棚井 澄雄
, 志賀 正武
, 青山 正和
, 鈴木 三義
, 高柴 忠夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-415554
公開番号(公開出願番号):特開2005-172704
出願日: 2003年12月12日
公開日(公表日): 2005年06月30日
要約:
【課題】 光検出装置および光学システムにおいて、コンパクトでありながら広い範囲の入射角度の光束を損失なく検出できるようにする。【解決手段】 入射光束が軸上主光線15aに沿った所定光路に入射された場合に中立位置で光束を検出する位置検出センサ11と、入射光束が所定光路からずれて位置検出センサ11外に進む光路を軸上主光線15aに近づく側に偏向する筒状反射部材12と、筒状反射部材12で偏向された光束を受光して光検出する位置検出センサ13を備える。そして、位置検出センサ11、13の検出出力により、入射光束の所定光路からのずれ量を検出する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
入射光束の所定光路からのずれ量を検出する光検出装置であって、
前記ずれ量が相対的に小さいとき、前記入射光束を受光して光検出を行う第1光検出手段と、
前記ずれ量が相対的に大きいとき、前記入射光束のうち、前記第1光検出手段の受光範囲外に入射する光束を偏向する光路偏向手段と、
該光路偏向手段で偏向された光束を受光して光検出を行う第2光検出手段とを備え、
前記第1および第2光検出手段のうち少なくともいずれかにより、前記入射光束の所定光路からのずれ量を検出することを特徴とする光検出装置。
IPC (3件):
G01B11/00
, G01J1/06
, G01S3/782
FI (3件):
G01B11/00 A
, G01J1/06 B
, G01S3/782 A
Fターム (27件):
2F065AA01
, 2F065AA31
, 2F065DD04
, 2F065FF49
, 2F065HH00
, 2F065JJ00
, 2F065JJ05
, 2F065JJ16
, 2F065JJ18
, 2F065LL12
, 2F065LL30
, 2F065QQ25
, 2F065UU03
, 2G065AA04
, 2G065AA17
, 2G065AA18
, 2G065AB09
, 2G065BA03
, 2G065BA04
, 2G065BA34
, 2G065BB08
, 2G065BB14
, 2G065BC05
, 2G065BC13
, 2G065BC19
, 2G065BC23
, 2G065DA15
引用特許:
出願人引用 (2件)
-
光学制御装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-101468
出願人:松下電器産業株式会社
-
光ビーム追尾受信方式
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-279476
出願人:日本電気株式会社
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