特許

J-GLOBAL ID：200903022763054020

ATM交換機およびATM網の試験システム

発明者： ▲高▼木 康志 ,  伊藤 新 ,  宮保 憲治 ,  竹中 豊文 ,  鈴木 晃司 ,  柴田 治朗 ,  下江 敏夫 ,  坂元 宏行
出願人/特許権者： 日本電信電話株式会社 ,  日本電気株式会社 ,  株式会社日立製作所 ,  沖電気工業株式会社 ,  富士通株式会社
代理人 (1件)： 磯村 雅俊
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-182706
公開番号（公開出願番号）：特開平7-038573
出願日： 1993年07月23日
公開日（公表日）： 1995年02月07日
要約：

【要約】【目的】 現用系と予備系の試験を効率良く行ない、ATM交換機およびATM網の信頼性と性能を向上させる。【構成】 現用系と予備系に冗長化され、セルの転送を行なう複数の機能ブロックと、各々の機能ブロック間のパス設定を行なう複数の系交絡とを有するATM交換機およびそのATM交換機等からなるATM網の試験システムであり、系交絡を制御して、現用系のパスとは独立に、予備系の各機能ブロック間のパスを設定させる第1の系交絡制御部と、この第1の系交絡制御部の制御に基づきパス設定された予備系のセル導通試験を行なう試験回路とを設ける構成とし、現用系でのサービス提供中に予備系の試験を行なう。

請求項（抜粋）：

現用系と予備系に冗長化され、セルの転送を行なう複数の機能ブロックと、該各々の機能ブロック間のパス設定を行なう複数の系交絡手段とを有するATM交換機の試験システムであり、上記系交絡手段を制御して、上記現用系のパスとは独立に、上記予備系の各機能ブロック間のパスを設定させる第1の系交絡制御手段と、該第1の系交絡制御手段の制御に基づきパス設定された上記予備系のセル導通試験を行なう試験手段とを設け、上記現用系でのサービス提供中に上記予備系の試験を行なうことを特徴とするATM交換機の試験システム。

IPC (3件)：

H04L 12/28 ,  H04L 12/26 ,  H04Q 3/00

FI (3件)：

H04L 11/20 D ,  H04L 11/12 ,  H04L 11/20 C

引用特許：

審査官引用 (2件)

• ATM交換機及びその試験方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-177822   出願人：富士通株式会社, 富士通九州通信システム株式会社
• 監視セル挿入制御方式
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-134817   出願人：富士通株式会社, 日本電信電話株式会社, 日本電気株式会社, 株式会社日立製作所