特許
J-GLOBAL ID:200903022773049954

瞳孔計測装置及びその画像歪み補正方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 西川 惠清 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-199831
公開番号(公開出願番号):特開2003-010122
出願日: 2001年06月29日
公開日(公表日): 2003年01月14日
要約:
【要約】【課題】レンズの歪曲収差を低減せずとも瞳孔の位置や大きさを高い精度で計測可能とする。【解決手段】1乃至複数のレンズを通して瞳孔を撮像する撮像手段1と、レンズの歪曲収差に起因する画像歪みを、予め計測したレンズの特性に応じて補正する歪み補正手段2と、歪み補正手段2で補正された画像から瞳孔の大きさ及び位置を計測する瞳孔計測手段3とを備える。歪み補正手段2ではメモリ4に格納されたデータテーブルを参照し、撮像画像の全ての点Piを本来存在すべき点Pi’に座標変換することで撮像画像の画像歪みを補正する。そして、この補正後の画像から瞳孔計測手段3により瞳孔の大きさ及び位置を計測すれば、高価なレンズや多数のレンズを用いて歪曲収差を低減しなくても瞳孔の位置や大きさを高い精度で計測できる。
請求項(抜粋):
1乃至複数のレンズを通して瞳孔を撮像する撮像手段と、レンズの歪曲収差に起因する画像歪みを、予め計測したレンズの特性に応じて補正する歪み補正手段と、歪み補正手段で補正された画像から瞳孔の大きさ及び位置を計測する瞳孔計測手段とを備えたことを特徴とする瞳孔計測装置。
引用特許:
審査官引用 (3件)
  • 瞳孔径計測装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-252686   出願人:松下電工株式会社
  • 特開平3-081879
  • 特開平1-302474

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