特許
J-GLOBAL ID：200903022813730684

液晶表示素子の検査装置および検査方法

発明者：
山田 直木

山田 直木 について


出願人/特許権者：
ソニー株式会社

ソニー株式会社 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-072977
公開番号（公開出願番号）：特開平9-265063
出願日： 1996年03月27日
公開日（公表日）： 1997年10月07日
要約：
【要約】【課題】 画素電極の短絡等の駆動基板の不良を、液晶の封入されていない状態でも検査できるようにした液晶表示素子の検査装置および検査方法を提供する。【解決手段】 液晶表示素子はHシフトレジスタ1、Vシフトレジスタ2、水平切換スイッチ3、映像入力部4、複数のデータライン5およびゲートライン6、交差部に配設されたTFTによって構成される。本発明の液晶表示素子の検査装置(センシングユニット)は映像入力部4に接続されたスイッチング手段7、スイッチング手段7の端子Aに接続された検査信号発生手段8、同端子Bに接続されたI/Vアンプ9、TFTに接続された画素電極(図示省略)に近接配置され、ダミー容量Cxを形成する対向電極手段100、そしてダミー容量Cxから電荷量を画像処理して欠陥画素を検出する画像検査装置10により構成される。
請求項（抜粋）：
基板上にマトリクス状に配設された画素電極と、前記画素電極を駆動する駆動手段を備えた駆動基板を、製造途中にて検査する液晶表示素子の検査装置において、前記駆動基板上に所定の間隙を有して配置され、前記画素電極との間に容量を形成する対向電極手段と、前記駆動基板の映像入力部に接続され、検査信号の書き込み・読み出しを制御するスイッチング手段と、前記スイッチング手段の書き込み時に、検査信号を入力する検査信号発生手段と、前記スイッチング手段の読み出し時に、出力信号を所定電圧に変換・増幅する増幅手段と、前記増幅手段の出力信号を画像処理して前記駆動基板の欠陥画素を検出する画像検査手段とを具備したことを特徴とする液晶表示素子の検査装置。
IPC (5件)：
G02F 1/13 101 ,  G01R 31/00 ,  G01R 31/02 ,  G02F 1/133 550 ,  G02F 1/136 500
FI (5件)：
G02F 1/13 101 ,  G01R 31/00 ,  G01R 31/02 ,  G02F 1/133 550 ,  G02F 1/136 500
引用特許：
審査官引用 (4件)
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