特許
J-GLOBAL ID：200903022865716787

エラーログ作成方法及びエラーテスト装置

発明者：
金學▲ビン▼

金學▲ビン▼ について


出願人/特許権者：
三星電子株式会社

三星電子株式会社 について


代理人 (1件)： 大塚 康徳 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-274017
公開番号（公開出願番号）：特開平8-286841
出願日： 1995年10月23日
公開日（公表日）： 1996年11月01日
要約：
【要約】【課題】 反復的に発生するエラーを重複記憶することを防止すると共に、補助記憶装置にエラーリストを記憶した後に更に読み出して処理するという複雑さを解消しうるエラーログ作成方法及びエラーテスト装置を提供する。【解決手段】 発生したエラーが臨時欠陥リストに存するかを確認し(23)、前記エラーが前記臨時欠陥リストに存しなければ、前記エラーがエラー頻度リストに存するか否かを確認し(24)、前記エラーが前記エラー頻度リストに存しなければ、前記エラーを前記エラー頻度リストに追加し(26)、前記エラーが前記エラー頻度リストに存すると、前記エラー頻度リスト内の当該エラーの発生頻度を増やし(25)、エラーの発生頻度が欠陥に分類できる頻度以上の場合に(27)、該エラーを前記臨時欠陥リストに追加することにより(28)、一定の回数以上再現性のあるエラーを区別し、テストの途中に欠陥リストを更新することにより、エラーリストの容量を低減することができる。
請求項（抜粋）：
発生したエラーが臨時欠陥リストに存するか否かを確認するステップと、前記エラーが前記臨時欠陥リストに存しなければ、前記エラーがエラー頻度リストに存するか否かを確認するステップと、前記エラーが前記エラー頻度リストに存しなければ、前記エラーを前記エラー頻度リストに追加するステップと、前記エラーが前記エラー頻度リストに存すると、前記エラー頻度リスト内の当該エラーの発生頻度を増やすステップと、エラーの発生頻度が欠陥に分類できる頻度以上の場合に、該エラーを前記臨時欠陥リストに追加するステップとを含んでなることを特徴とするエラーログ作成方法。
IPC (7件)：
G06F 3/06 304 ,  G06F 11/22 360 ,  G06F 11/34 ,  G06F 12/16 340 ,  G11B 20/18 550 ,  G11B 20/18 572 ,  G11B 20/18
FI (7件)：
G06F 3/06 304 R ,  G06F 11/22 360 E ,  G06F 11/34 H ,  G06F 12/16 340 D ,  G11B 20/18 550 F ,  G11B 20/18 572 B ,  G11B 20/18 572 F
引用特許：
審査官引用 (3件)

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