特許
J-GLOBAL ID：200903022936679845

3次元形状測定装置および方法

発明者：
安部 勉

安部 勉 について


出願人/特許権者：
富士ゼロックス株式会社

富士ゼロックス株式会社 について


代理人 (3件)： 澤田 俊夫 ,  宮田 正昭 ,  山田 英治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-240631
公開番号（公開出願番号）：特開2006-058142
出願日： 2004年08月20日
公開日（公表日）： 2006年03月02日
要約：
【課題】 モニタ用のカメラと三角測量用のカメラで同じカメラパラメータを採用できるようにする。 【解決手段】 プロジェクタ10からのパターン光がハーフミラー40で反射され被写体50に投影される。被写体50からの投影光はハーフミラー40を透過してモニター用の第1カメラ20に案内される。被写体50からの投影光はNDフィルタ31を介して三角測量用の第2カメラ30に案内される。ハーフミラー40の透過率とNDフィルタ31の透過率を実質的に同じにして第1カメラ20の画像および第2カメラ30の画像の明るさが実質的に等しくなるようにする。カメラパラメータを同一にしても両者の明るさが同じであるのでダイナミックレンジを揃えて計測を最適化できる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
所定の輝度・色相範囲で予め設定された複数レベルの輝度・色相でコード化されたストライプパターンを被写体に投影する投光器と、前記投光器の投光パターンの被写体情報による輝度・色相変化をモニタするために、ビームスプリッタを用いて前記投光器と同じ光軸方向に配置したカメラと、前記投光器の光軸からずれて配置されるカメラとを具備し、前記投光器の光軸からずれて配置されるカメラで前記被写体を撮影することに基づいて、前記被写体の3次元画像を得る3次元形状測定装置において、前記ビームスプリッタによって、明るさが減衰される、前記投光器と同じ光軸方向に配置したカメラで撮像される画像の明るさと、前記投光器の光軸からずれて配置されるカメラで撮像される画像の明るさとが実質的に同じになる様に、前記投光器の光軸からずれて配置されるカメラと前記投光器との間の光路および前記投光器と同じ光軸方向に配置したカメラと前記投光器との間の光路の少なくとも一方に、明るさ調整機構を設けたことを特徴とする3次元形状測定装置。
IPC (3件)：
G01B 11/24 ,  G01B 11/25 ,  G01B 11/245
FI (3件)：
G01B11/24 K ,  G01B11/24 E ,  G01B11/24 N
Fターム (21件)：
2F065AA06 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065FF05 ,  2F065FF09 ,  2F065HH07 ,  2F065HH13 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ08 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL00 ,  2F065LL24 ,  2F065LL30 ,  2F065LL46 ,  2F065NN17 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ28
引用特許：
出願人引用 (6件)
全件表示
審査官引用 (5件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM