特許
J-GLOBAL ID:200903022989254498

測定用同軸型プローブ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 森山 哲夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-170778
公開番号(公開出願番号):特開2001-004659
出願日: 1999年06月17日
公開日(公表日): 2001年01月12日
要約:
【要約】【課題】電子部品が搭載された回路基板に当接させ、測定端子から回路基板などの表面に信号ラインが引き回されていても、また回路基板の表面に測定端子が密に配設されていても、これを検査測定できる測定用同軸型プローブを提供する。【解決手段】プランジャ10dを軸方向に摺動自在でしかも抜け出ないようにして先端側の突出方向に弾性付勢するスプリングコネクタ10の外周に、絶縁スリーブ12を介して同軸状に円筒状の外側プローブ18を配設し、この外側プローブ18の先端縁の一部分を先端側に突出して突起部18aを設ける。プランジャ10dおよび突起部18aの先端を、回路基板の測定端子とアース端子にそれぞれ点状で当接させる。
請求項(抜粋):
プランジャを軸方向に摺動自在でしかも抜け出ないようにして先端側の突出方向に弾性付勢するスプリングコネクタからなるセンタープローブに、絶縁スリーブを介して同軸状に円筒状の外側プローブを配設し、この外側プローブの先端縁の一部分を先端側に突出して突起部を設け、前記プランジャおよび前記突起部の先端が被測定物に当接するように構成したことを特徴とする測定用同軸型プローブ。
IPC (3件):
G01R 1/067 ,  G01R 1/073 ,  G01R 31/02
FI (3件):
G01R 1/067 C ,  G01R 1/073 A ,  G01R 31/02
Fターム (13件):
2G011AA09 ,  2G011AA21 ,  2G011AA22 ,  2G011AB01 ,  2G011AB03 ,  2G011AB04 ,  2G011AB05 ,  2G011AC02 ,  2G011AC12 ,  2G011AE01 ,  2G014AA13 ,  2G014AB59 ,  2G014AC10
引用特許:
審査官引用 (3件)

前のページに戻る