特許
J-GLOBAL ID：200903023089132920
X線応力測定方法及びその装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
横川 邦明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-149677
公開番号（公開出願番号）：特開平8-320264
出願日： 1995年05月24日
公開日（公表日）： 1996年12月03日
要約：
【要約】【目的】 測定対象物のψ角の一点測定のみで残留応力を測定できるX線応力測定方法及び装置を提供する。【構成】 金属材料の残留応力をsin2ψ -2θ線図を用いて測定する方法において、内部応力が既知である標準試料について予め標準の1点Oのsin2 ψ及び2θを測定して求めておく。被測定試料については1点Qの測定でsin2ψ及び2θを求める。以上の2点により、sin2ψ -2θ線Lが決定され、この直線Lの傾斜から試料の内部応力が求められる。
請求項（抜粋）：
X線源から放射されたX線を一定の入射角度で試料へ入射し、試料で回折する回折X線をX線検出器で検出し、その検出結果に基づいてsin2 ψ-2θ線図における傾き量を求め、その傾き量に基づいて試料の内部応力を求めるX線応力測定方法において、標準試料について予め標準の1点のsin2 ψ及び2θを測定して求めておき、被測定試料については1点のみのsin2 ψ及び2θを測定することを特徴とするX線応力測定方法。
IPC (3件)：
G01L 1/00
, G01L 1/25
, G01N 23/207
G01L 1/00 B
, G01L 1/25
, G01N 23/207
