特許
J-GLOBAL ID：200903023119209140
CMM校正ゲージ及びCMMの校正方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
工業技術院計量研究所長
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-359732
公開番号（公開出願番号）：特開2000-180103
出願日： 1998年12月17日
公開日（公表日）： 2000年06月30日
要約：
【要約】【課題】 従来のCMM(三次元座標測定器)を校正するためのゲージは、必ずしも正確なものとはいえないので、国家標準器に基づくゲージを提供すると共に、そのゲージを使用したCMM校正方法を提供する。【解決手段】 国家標準器として第1端面6と第2端面7間の長さの絶対値が保証されているブロックゲージ1の表面3に、球体2を載置して固定することによりCMM校正ゲージ4を構成する。使用に際しては、第1端面6に3点以上CMMの測定子を当てて第1端面6の平面を特定し、次いで球体2の赤道部分に3点測定子を当てると共に極点にも当てて、第1端面6の平面からの球体2の中心座標と球体の直径を特定し、次いで第2端面7に測定子を当てて第2端面と球体の上記特定値を補正し、球体の3次元空間の座標が正確に特定されたCMM校正ゲージとする。
請求項（抜粋）：
ブロックゲージの表面に球体を固定したことを特徴とするCMM校正ゲージ。
Fターム (9件)：
2F062AA04
, 2F062BB09
, 2F062BB14
, 2F062CC22
, 2F062DD23
, 2F062EE01
, 2F062EE41
, 2F062EE62
, 2F062GG24
