特許

J-GLOBAL ID：200903023152097595

位置測定装置

発明者： シュトラーサー・エーリヒ ,  ミットマン・ルードルフ
出願人/特許権者： ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング
代理人 (4件)： 江崎 光史 ,  三原 恒男 ,  奥村 義道 ,  鍛冶澤 實
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-560479
公開番号（公開出願番号）：特表2005-515418
出願日： 2002年11月30日
公開日（公表日）： 2005年05月26日
要約：

【課題】 この発明により、シーケンシャル擬似ランダム符号(C)の各符号エレメント(C1,C2,C3)が、互いに相補的な特性を有する、測定方向Xに連続した二つの部分領域(A,B)から構成される位置測定装置が提供される。【解決手段】 符号エレメント(C1,C2,C3)のバイナリ情報(B1,B2,B3)は、両方の部分領域(A,B)の走査信号(S)を比較することによって得られる。この比較によって、位置測定装置の正しい動作方法も検査される。

請求項（抜粋）：

各符号エレメント(C1,C2,C3)が、それぞれ二つの部分領域(A,B)から成り、これらの部分領域が、互いに相補的であり、測定方向Xに連続して配置されている場合において、測定方向Xに並んで配置された一連の符号エレメント(C1,C2,C3)から成る符号(C)と、 複数の符号エレメント(C1,C2,C3)を走査して、走査した符号エレメント(C1,C2,C3)の各部分領域(A,B)内において、少なくとも一つの走査信号(S)を生成するための、複数の検出器エレメント(D1〜D11)を持つ走査装置(AE)と、 それぞれ符号エレメント(C1,C2,C3)の部分領域(A,B)の走査信号(S)を互いに比較し、その比較結果に応じて、符号エレメント(C1,C2,C3)に対するバイナリ情報(B1,B2,B3)を生成する比較装置(T1,T2,T3)を持つ評価ユニット(AW)と、 を有する位置測定装置。

IPC (2件)：

G01D5/249 ,  G01D5/36

FI (2件)：

G01D5/249 L ,  G01D5/36 T

Fターム (24件)：

2F077AA30 ,  2F077CC10 ,  2F077NN27 ,  2F077PP19 ,  2F077QQ03 ,  2F077QQ07 ,  2F077QQ15 ,  2F077RR03 ,  2F077RR11 ,  2F077RR23 ,  2F103BA23 ,  2F103BA37 ,  2F103CA02 ,  2F103DA06 ,  2F103DA11 ,  2F103DA12 ,  2F103DA13 ,  2F103EB14 ,  2F103EB16 ,  2F103EB33 ,  2F103EC03 ,  2F103ED02 ,  2F103ED06 ,  2F103FA06

引用特許：

出願人引用 (4件)

• 英国特許公開第2126444号明細書
  
• 特開平3-287013
  
• 絶対値エンコーダ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-215266   出願人：サムタク株式会社
• 特表昭59-501725
  

審査官引用 (3件)

• 特開平3-287013
  
• 絶対値エンコーダ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-215266   出願人：サムタク株式会社
• 特表昭59-501725