機器の劣化を検出する方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：平木祐輔 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-115187
公開番号（公開出願番号）：特開2003-315211
出願日： 2002年04月17日
公開日（公表日）： 2003年11月06日
要約：

【要約】【課題】性能劣化が徐々に進行するような機器において、線形回帰モデルを用いて機器の測定値を監視することにより、性能劣化を高精度で検出する方法を提供する。【解決手段】検知システムを有する機器において、測定値の標本データを採取し、該標本データから導出される回帰モデルを用いてその後の測定値を監視することにより、前記機器の劣化を検出する方法であって、近傍に十分な標本データがない測定値が得られた場合には、該測定値を一時保留し、これに続く複数回の測定値と、前記回帰モデルに基づく予測値との残差が連続して所定の値より小さいと判定すれば、前記一時保留した測定値を標本データに追加することを特徴とする。近傍に十分な標本データがない測定値については一時保留し、以後の複数回の測定値が回帰モデルに合致していれば信頼性が高いと判断し、標本データに追加する。

請求項（抜粋）：

検知システムを有する機器において、測定値の標本データを採取し、該標本データから導出される回帰モデルを用いてその後の測定値を監視することにより、前記機器の劣化を検出する方法であって、近傍に十分な標本データがない測定値を得た場合には、該測定値を一時保留し、該測定値前後の複数回の測定値と、前記回帰モデルに基づく予測値との残差が連続して所定の値より小さいと判定すれば、前記一時保留した測定値を標本データに追加することを特徴とする方法。

IPC (4件)：

G01M 19/00 , F25B 49/02 570 , G01N 17/00 , G05B 23/02 302

FI (4件)：

G01M 19/00 , F25B 49/02 570 B , G01N 17/00 , G05B 23/02 302 S

Fターム (23件)：

2G024AD12 , 2G024BA11 , 2G024BA12 , 2G024BA17 , 2G024CA17 , 2G024CA26 , 2G024DA09 , 2G024FA02 , 2G024FA11 , 2G050BA10 , 2G050BA12 , 2G050DA03 , 2G050EA01 , 2G050EB02 , 5H223AA01 , 5H223AA11 , 5H223BB01 , 5H223BB02 , 5H223DD03 , 5H223DD09 , 5H223EE02 , 5H223FF05 , 5H223FF09

引用特許：

出願人引用 (4件)

機器の異常監視方法および装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-068347 出願人：株式会社日立製作所
特開昭59-068643
回転機械の振動診断装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-075040 出願人：株式会社東芝

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