特許
J-GLOBAL ID:200903023233807970

感光体の寿命検知方法、画像形成装置、及びプロセスカートリッジ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 倉橋 暎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-213178
公開番号(公開出願番号):特開平10-039691
出願日: 1996年07月23日
公開日(公表日): 1998年02月13日
要約:
【要約】【課題】 帯電手段としてAC電圧とDC電圧を併用し、画像形成中に複数の帯電条件を備えた接触帯電を用いたプロセスカートリッジにおいて、感光ドラムの正確な寿命検知を行なう。【解決手段】 バイアス印加条件nに基づき印加されている時間tnを検出し、検出された時間t1〜tnと、係数k1、k2・・・knを用いて感光体のダメージ指数DをD=k1×t1+k2×t2・・・knの式から演算し、感光体ダメージ指数Dを寿命積算値に積算し、積算された積算値と予め定めておいた寿命情報とを比較し、この比較結果に基づき、積算された感光体ダメージ積算値が予め定めておいた感光体の寿命とする積算時間以上であるとき、感光体の寿命をユーザに警告あるいは表示する。
請求項(抜粋):
記録媒体に画像を形成する画像形成装置の電子写真感光体の寿命検知方法において、前記電子写真感光体に作用する帯電手段が前記電子写真感光体に印加する電圧は、DCバイアス成分及びACバイアス成分を含み、且つ画像形成動作中において、バイアス印加無し、DCバイアスのみ印加、DCバイアスにACバイアスを重畳したバイアスを印加、更にACバイアスの場合、電圧値、電流値、周波数に関してn種類(n≧2)のバイアス印加条件を持ち、前記画像形成装置本体は、前記バイアス印加条件nに基づき前記帯電手段にバイアスが印加されている時間tnを検出し、検出された時間t1、t2・・・tnと予め決められた係数k1、k2・・・knを用いて、前記電子写真感光体のダメージ指数DをD=k1×t1+k2×t2+・・・+kn×tn(但し、k1>0、k2≧0、k3≧0、・・・、kn≧0)の式に基づき演算し、前記電子写真感光体のダメージ指数Dを感光体ダメージ積算値に積算し、積算された積算値と予め定めておいた前記電子写真感光体の寿命とする寿命情報とを比較し、該比較結果に基づいて、積算された感光体ダメージ積算値が予め定めておいた前記電子写真感光体の寿命とする積算時間以上であるとき、前記電子写真感光体の寿命を警告或いは表示することを特徴とする電子写真感光体の寿命検知方法。
IPC (4件):
G03G 21/00 512 ,  G03G 21/00 386 ,  G03G 15/00 550 ,  G03G 15/02 102
FI (4件):
G03G 21/00 512 ,  G03G 21/00 386 ,  G03G 15/00 550 ,  G03G 15/02 102
引用特許:
審査官引用 (6件)
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