特許
J-GLOBAL ID:200903023386067150

液中微粒子測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-173997
公開番号(公開出願番号):特開平11-352048
出願日: 1998年06月04日
公開日(公表日): 1999年12月24日
要約:
【要約】【課題】 微粒子の光散乱またはブレイクダウン音響波またはプラズマ発光を検出する装置において、レーザービームの集光部位に微粒子だけを集め、気泡は集まらないようにすることによって、気泡の影響を受けず、微粒子の検出効率の高い液中微粒子測定装置を提供することである。【解決手段】 レーザービームの集光部位に超音波の定在波の節を形成する定在波発生用超音波発生手段4-1、4-2と、前記集光部位の定在波の節の位置に超音波の波面を収束する収束型超音波発生手段5とを試料セル3に設けた構成にしている。
請求項(抜粋):
試料液に光を集光し、該集光部位において試料液中の微粒子による散乱光または微粒子のブレイクダウンにより発生した音響波または微粒子のプラズマ発光を検出することによって試料液中の微粒子を測定する装置において、前記光の集光部位に超音波の定在波の節を形成する第1の超音波発生手段と、前記集光部位の定在波の節の位置に超音波の波面を収束させる第2の超音波発生手段とを設けたことを特徴とする液中微粒子測定装置。
IPC (3件):
G01N 15/10 ,  G01N 21/63 ,  G01N 29/14
FI (3件):
G01N 15/10 A ,  G01N 21/63 Z ,  G01N 29/14
引用特許:
審査官引用 (5件)
  • 微粒子計測装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-025131   出願人:株式会社日立製作所, 日立電子エンジニアリング株式会社
  • 超音波による流体中の微粒子処理装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-296310   出願人:株式会社日立製作所
  • 特開平3-282386
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