特許

J-GLOBAL ID：200903072405270443

微粒子計測装置

発明者： 安田 賢二 ,  武田 一男 ,  平岩 篤 ,  伊藤 嘉敏 ,  須田 匡
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所 ,  日立電子エンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 中村 純之助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-025131
公開番号（公開出願番号）：特開平6-241977
出願日： 1993年02月15日
公開日（公表日）： 1994年09月02日
要約：

【要約】【目的】検出感度を低下させずに測定流量が増大でき、流体中の微粒子の物質弁別が可能な微粒子計測装置を得る。【構成】フローセル4中の微粒子に、超音波振動子5による濃縮手段を設け、濃縮領域またはその下流で光照射し、微粒子からの散乱光を光検出器13で検出する。

請求項（抜粋）：

流体中の微粒子を検出測定する微粒子計測装置において、上記微粒子を濃縮する手段を有し、上記手段による濃縮領域または該濃縮領域の下流で上記微粒子に光照射することにより、上記微粒子を検出することを特徴とする微粒子計測装置。

IPC (3件)：

G01N 15/06 ,  G01N 15/02 ,  G01N 15/14

引用特許：

審査官引用 (5件)

• 特開昭57-131036
  
• 粒子濃度測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-164214   出願人：株式会社日立製作所
• 特開昭62-225928
  
• 特開平4-138336
  
• 特開平3-122548