特許
J-GLOBAL ID：200903023624987859

液晶表示素子評価法及び評価装置

発明者：
廣沢 一郎

廣沢 一郎 について


出願人/特許権者：
日本電気株式会社

日本電気株式会社 について


代理人 (1件)： 稲垣 清
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-345107
公開番号（公開出願番号）：特開2001-165809
出願日： 1999年12月03日
公開日（公表日）： 2001年06月22日
要約：
【要約】【課題】 液晶表示素子中の液晶分子のツイスト角(ねじれ角)、チルト角及び液晶層の厚さを決定する。【解決手段】 試料103の面内回転機構と、複数の波長の光源及び試料に入射する光の偏光状態を制御する偏光子102、及び試料を透過した光の偏光状態を測定するための位相子、検光子105、及び光の波長を単色化する分光器と光検出器106によって構成される。試料を透過する光の偏光状態の試料方位及び波長分散依存性を測定することにより、液晶表示素子中の液晶分子のツイスト角、と液晶層の厚さ、もしくはツイスト角、平均傾き角及び液晶層の厚さを決定する。
請求項（抜粋）：
液晶表示素子の表示面に、一定の波長及び偏光状態を有する光を入射し、液晶表示素子を透過した光の偏光状態の液晶表示素子の方位依存性と波長依存性の少なくともいずれか一方を測定することにより、液晶表示素子内の液晶のツイスト角、平均傾き角及び液晶層の厚さのうちの少なくとも1種類を決定することを特徴とする液晶表示素子評価法。
IPC (4件)：
G01M 11/00 ,  G01N 21/21 ,  G01N 21/27 ,  G02F 1/13 101
FI (4件)：
G01M 11/00 T ,  G01N 21/21 Z ,  G01N 21/27 Z ,  G02F 1/13 101
Fターム (23件)：
2G059AA03 ,  2G059BB20 ,  2G059EE01 ,  2G059EE04 ,  2G059FF01 ,  2G059GG01 ,  2G059HH02 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ20 ,  2G059KK02 ,  2G059MM01 ,  2G059MM03 ,  2G059MM10 ,  2G086EE10 ,  2H088EA62 ,  2H088FA11 ,  2H088HA18 ,  2H088HA28 ,  2H088KA08 ,  2H088KA11 ,  2H088KA14 ,  2H088MA20
引用特許：
出願人引用 (8件)
全件表示
審査官引用 (5件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM