特許
J-GLOBAL ID：200903054649999170
液晶初期配向角測定方法及び液晶初期配向角測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
若林 忠 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-331715
公開番号（公開出願番号）：特開平11-160198
出願日： 1997年12月02日
公開日（公表日）： 1999年06月18日
要約：
【要約】【課題】液晶初期配向角(プレチルト角)を精度よく、かつ高速に測定する手法を提供する。【解決手段】直線偏光を液晶試料3に垂直に入射するとともに、回転ステージ7上で液晶試料3を面内回転し、透過光の振幅比及び位相差の入射光偏光方向に対する液晶試料方位角依存性を測定する。この測定値より液晶初期配向角(プレチルト角)を決定する。
請求項（抜粋）：
直線偏光を液晶試料に入射し、透過光の偏光状態を測定することにより液晶初期配向角を決定する液晶初期配向角測定法において、前記直線偏光は液晶試料に垂直に入射され、前記液晶試料の初期配向角は、前記液晶試料を面内回転して、前記透過光の振幅比及び前記透過光の位相差の入射光偏光方向に対する液晶試料方位角依存性を測定することにより決定されることを特徴とする液晶初期配向角測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01M 11/00 T
, G01N 21/21 Z
