特許
J-GLOBAL ID：200903023639073128

外観検査装置、外観検査システム及び外観検査方法

発明者：
麻柄 隆

麻柄 隆 について


出願人/特許権者：
株式会社東芝

株式会社東芝 について


代理人 (1件)： 日向寺 雅彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-240777
公開番号（公開出願番号）：特開2009-150866
出願日： 2008年09月19日
公開日（公表日）： 2009年07月09日
要約：
【課題】画像検査と目視検査の結果を容易に参照可能とし、高効率で高精度の外観検査を可能とする外観検査装置、外観検査システム及び外観検査方法を提供する。【解決手段】被検査品を撮像して画像解析した結果に基づく画像検査結果を、前記被検査品を目視で検査する検査者の視界に重ねて、前記検査者が前記被検査品を観視している像に対応させた位置に表示可能としたことを特徴とする外観検査装置が提供される。また、被検査品を撮像し画像処理部で画像解析させて前記被検査品を画像検査し、前記画像検査の結果を、前記被検査品を目視で検査する検査者の視界に重ねて、前記検査者が前記被検査品を観視している像に対応させた位置に表示させた状態で、前記検査者が前記被検査品を目視で検査可能としたことを特徴とする外観検査方法が提供される。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
被検査品を撮像して画像解析した結果に基づく画像検査結果を、前記被検査品を目視で検査する検査者の視界に重ねて、前記検査者が前記被検査品を観視している像に対応させた位置に表示可能としたことを特徴とする外観検査装置。
IPC (1件)：
G01N 21/84
FI (1件)：
G01N21/84 D
Fターム (9件)：
2G051AA90 ,  2G051AB02 ,  2G051AC22 ,  2G051CA04 ,  2G051CA11 ,  2G051CB01 ,  2G051CC11 ,  2G051CD07 ,  2G051FA02
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • 外観検査装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-359113   出願人：オリンパス株式会社
審査官引用 (7件)
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