特許
J-GLOBAL ID:200903023718508008
ファイバ光学プレート及び凹凸パターン検出装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
長谷川 芳樹 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-037260
公開番号(公開出願番号):特開2003-240981
出願日: 2002年02月14日
公開日(公表日): 2003年08月27日
要約:
【要約】【課題】 被測定対象内部の散乱光を利用する凹凸パターン検出装置において装置が小型化又は薄型化されること及び照明手段が効率良く被測定対象を照明することを可能ならしめるファイバ光学プレート及びファイバ光学プレートが適用された凹凸パターン検出装置を提供する。【解決手段】 ファイバ光学プレート1の光伝送路の軸線と、凹凸パターン入力面122とが、空気中から入射する光がコア・クラッド界面で全反射しないように設定されるスラント角で、傾斜する。ファイバ光学プレート1は、各光伝送路の周囲に光吸収体が配置される検出領域12と、隣り合う光伝送路の間に光吸収体が介在しない照明領域14とを備える。凹凸パターン出力面124と撮像素子4とが、また照明光入射面142とLEDアレー5とが、それぞれ、透明接着剤で接合される。
請求項(抜粋):
被測定対象の凹凸パターンを検出する凹凸パターン検出装置に適用され、各々の軸線が双方の端面と斜めに交わり、クラッド中に複数のコアが所定の間隔で配置されるように、複数の光ファイバを集成し、成形したファイバ光学プレートであって、前記凹凸パターンを撮像する撮像手段が臨む検出領域と、前記検出領域に隣接すると共に、前記被測定対象を照明する照明手段が臨む照明領域と、を含んで構成され、前記検出領域における前記クラッド中に、光を吸収する光吸収体が設けられることを特徴とするファイバ光学プレート。
IPC (4件):
G02B 6/08
, A61B 5/117
, G01B 11/24
, G06K 7/10
FI (5件):
G02B 6/08
, G06K 7/10 F
, A61B 5/10 322
, G01B 11/24 K
, G01B 11/24 A
Fターム (20件):
2F065AA51
, 2F065CC16
, 2F065DD02
, 2F065FF04
, 2F065GG07
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065LL03
, 2H046AA02
, 2H046AA09
, 2H046AB06
, 2H046AD09
, 2H046AD16
, 4C038FF01
, 4C038FG01
, 5B072AA03
, 5B072CC26
, 5B072DD01
, 5B072LL11
, 5B072LL18
引用特許:
審査官引用 (7件)
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凹凸パターン入力装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-153513
出願人:三菱電機株式会社
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特開昭58-038904
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特開昭58-038904
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