特許

J-GLOBAL ID：200903023931854459

画像形成方法及び画像形成装置並びに記録媒体の平滑度検出器

発明者： 田村 壽宏 ,  永田 昌也
出願人/特許権者： シャープ株式会社
代理人 (1件)： 小池 隆彌
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-070261
公開番号（公開出願番号）：特開平11-271037
出願日： 1998年03月19日
公開日（公表日）： 1999年10月05日
要約：

【要約】【課題】 多種多様な用紙、つまり使用される記録媒体の種類や表面粗度に依存することなしに高品位・高画質の画像形成方法及び画像形成装置を提供する。【解決手段】 画像形成方法において、記録媒体に光を照射する第1のステップS2-1と、該記録媒体からの反射光強度分布を3次元の画像情報として検出する第2のステップS2-2と、前記検出された3次元の画像情報に対し演算を行い1次元情報であるフラクタル次元に変換する第3のステップS2-3とからなる記録媒体の平滑度検出ステップと、前記1次元情報であるフラクタル次元を基に複数の画像形成パラメータを決定し制御するステップS2-4からなる画像形成制御ステップと、を含めることで良好な画像を得ることができる。

請求項（抜粋）：

感光体表面を帯電させる帯電ステップと、前記帯電した感光体表面を露光して静電潜像を形成する露光ステップと、前記感光体表面の静電潜像を現像してトナー像を形成する現像ステップと、前記トナー像を記録媒体上に転写する転写ステップとを含む画像形成方法において、記録媒体のフラクタル次元情報に基づいて静電潜像あるいはトナー像を形成するための画像形成パラメータを制御することを特徴とする画像形成方法。

IPC (2件)：

G01B 11/30 ,  G03G 15/00 303

FI (2件)：

G01B 11/30 G ,  G03G 15/00 303

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平4-080771
  
• 半導体ウェハ表面の粗さの評価方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-230248   出願人：新日本製鐵株式会社
• 印刷物の汚損度判別装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-348509   出願人：株式会社東芝
• 特開昭62-235512