特許
J-GLOBAL ID：200903023943060172

光量測定装置

発明者：
永岡 利之

永岡 利之 について


出願人/特許権者：
オリンパス光学工業株式会社

オリンパス光学工業株式会社 について


代理人 (1件)： 篠原 泰司 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-367867
公開番号（公開出願番号）：特開2001-183296
出願日： 1999年12月24日
公開日（公表日）： 2001年07月06日
要約：
【要約】【課題】 試料から発生する蛍光を効率良く検出できる光量測定装置を提供する。【解決手段】 光源1と該光源からの励起光を試料6に導くための光源光学系2,3,4,5と、試料6から発生した蛍光を集光するための対物光学系5と、対物光学系で集光された蛍光を検出する検出光学系12と、試料6を介して対物光学系5の反対側に配置された反射光学素子9とを備えている。この反射光学素子9は、蛍光波長のみを反射する分光透過率を有している。
請求項（抜粋）：
光源と、光源からの励起光を試料に導くための光源光学系と、前記試料から発生した蛍光を集光する対物光学系と、前記試料を挾んで前記対物光学系の反対側に配置され、前記試料から発生した蛍光波長のみを反射する分光特性を有する反射光学系と、前記対物光学系で集光された蛍光を検出する検出光学系を備える光量測定装置。
FI (2件)：
G01N 21/64 Z ,  G01N 21/64 E
Fターム (17件)：
2G043AA01 ,  2G043AA03 ,  2G043CA03 ,  2G043DA06 ,  2G043EA01 ,  2G043FA02 ,  2G043GA04 ,  2G043GA07 ,  2G043GB01 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA09 ,  2G043JA03 ,  2G043KA09 ,  2G043LA03 ,  2G043MA01 ,  2G043NA13
引用特許：
審査官引用 (5件)
  • 特開平4-038448
  • 特開平3-020644
  • 蛍光パターン読み取り装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-270333   出願人：日立ソフトウエアエンジニアリング株式会社
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