特許

J-GLOBAL ID：200903023974135790

穀粒選別機

発明者： 山本 惣一 ,  後藤 恒義 ,  結城 恒美
出願人/特許権者： 株式会社山本製作所
代理人 (1件)： 中島 淳 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-271556
公開番号（公開出願番号）：特開平9-113455
出願日： 1995年10月19日
公開日（公表日）： 1997年05月02日
要約：

【要約】【課題】 穀粒が不良品であるか否かの判定を高い精度で行う。【解決手段】 基準板に対するビデオ信号の信号レベルに変動が生じたとき(254)、この変動は光源のシェーディングによる変化ではなく、電圧変動等に起因する変化が生じていると判断し、変動率δを算出し(256)、設定されたしきい値を変動分に応じて一律に高域又は低域の信号レベルにシフトして(258)、調整する。

請求項（抜粋）：

所定の移動経路を移動する穀粒又は穀粒群を所定の光源からの照射光の下で複数の画素からなる撮像手段によって撮像し、撮像された各画素の濃度値と各画素毎の所定の基準濃度値とに基づいて、前記穀粒が不良品であるか否か、又は前記穀粒群に不良品が含まれるか否かを判定し、該判定結果に基づいて該穀粒又は穀粒群を選別する穀粒選別機であって、前記撮像手段に対して前記穀粒又は穀粒群の撮像範囲の前後に配置され、予め反射率が定められた基準部材と、前記基準部材の画像の濃度値に変動が生じた場合に、前記各画素毎の基準濃度値を、該変動の変動率に基づいて一律に調整する基準濃度値調整手段と、を有する穀粒選別機。

IPC (2件)：

G01N 21/85 ,  B07C 5/342

FI (2件)：

G01N 21/85 A ,  B07C 5/342

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭56-120937
  
• 特開昭56-120937
  
• 表面層欠陥検出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-271488   出願人：富士ゼロツクス株式会社
• 特開昭61-210929