特許
J-GLOBAL ID：200903024233361102

波長計測装置

発明者：
平山 紀友

平山 紀友 について

, 
佐野 安一

佐野 安一 について


出願人/特許権者：
富士電機株式会社

富士電機株式会社 について


代理人 (1件)： 森田 雄一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-309326
公開番号（公開出願番号）：特開2002-116059
出願日： 2000年10月10日
公開日（公表日）： 2002年04月19日
要約：
【要約】【課題】 アイソレータ及び光分岐器を使用せずに、光サーキュレータを用いて戻り光が光源側に達しないようにして、部品点数を削減する。【解決手段】 光源1からの光が入射される光ファイバ3に一以上のブラッグ回折格子(FBG)5が形成され、各ブラッグ回折格子5からの反射光の波長を波長検出器9により検出して各ブラッグ回折格子1の位置における温度、歪み等の物理量を測定するようにした波長計測装置に関する。光源1とFBG5との間に光サーキュレータ11を接続し、この光サーキュレータ11により、FBG5からの反射光を含む戻り光を光源1側に透過させずに波長検出器9側へ出射させる。
請求項（抜粋）：
光源からの光が入射される光ファイバに一以上のブラッグ回折格子が形成され、各ブラッグ回折格子からの反射光の波長を波長検出器により検出して各ブラッグ回折格子の位置における物理量を測定するようにした波長計測装置において、前記光源と前記ブラッグ回折格子との間に光サーキュレータを接続し、この光サーキュレータにより、前記ブラッグ回折格子からの反射光を含む戻り光を前記光源側に透過させずに前記波長検出器側へ出射させることを特徴とする波長計測装置。
IPC (6件)：
G01D 5/26 ,  G01B 11/16 ,  G01J 5/08 ,  G01J 9/02 ,  G01K 11/12 ,  G01L 1/24
FI (6件)：
G01D 5/26 D ,  G01B 11/16 G ,  G01J 5/08 A ,  G01J 9/02 ,  G01K 11/12 F ,  G01L 1/24 A
Fターム (29件)：
2F056VF02 ,  2F056VF10 ,  2F056VF11 ,  2F056VF16 ,  2F065AA65 ,  2F065CC23 ,  2F065DD04 ,  2F065FF48 ,  2F065LL02 ,  2F065LL33 ,  2F065LL34 ,  2F065LL42 ,  2F065LL55 ,  2F065UU08 ,  2F103BA43 ,  2F103CA04 ,  2F103EB06 ,  2F103EB11 ,  2F103EC00 ,  2F103EC09 ,  2F103EC14 ,  2F103EC16 ,  2G066BA11 ,  2G066BA18 ,  2G066BA24 ,  2G066BA38 ,  2G066BA60 ,  2G066BB02 ,  2G066CA01
引用特許：
審査官引用 (3件)

前のページに戻る

TOP

BOTTOM