特許

J-GLOBAL ID：200903024319058518

FEM最適解法による解析システム及び方法並びに記録媒体

発明者： 平田 一郎
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： 加藤 朝道
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-252544
公開番号（公開出願番号）：特開2002-063220
出願日： 2000年08月23日
公開日（公表日）： 2002年02月28日
要約：

【要約】【課題】陽解法を動解析、特に携帯電子機器の落下解析に用いると、挙動(各部の変形)および反力(衝撃力)が、実際の現象と大きくかけ離れるという問題を解消すること。【解決手段】モデルのメッシュサイズと、ヤング率と、密度とを基に、陽解法における解析時間間隔△tex、陰解法における解析時間間隔△timを比較することにより、最適解法を選択、解析する。

請求項（抜粋）：

解析対象のモデルのデータを入力し該モデルの最小メッシュサイズを検索する手段と、陰解法と陽解法との解析時間間隔を比較する手段と、陰解法により解析を行う手段と、陽解法により解析を行う手段と、を備え、前記解析時間間隔の比較結果に基づき、陰解法により解析を行うか、もしくは陽解法により解析を行う、ことを特徴とするFEM最適解法による解析システム。

IPC (2件)：

G06F 17/50 612 ,  G06F 19/00 110

FI (2件)：

G06F 17/50 612 H ,  G06F 19/00 110

Fターム (8件)：

5B046AA07 ,  5B046JA08 ,  5B049BB07 ,  5B049CC02 ,  5B049CC31 ,  5B049EE03 ,  5B049EE05 ,  5B049EE41

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 構造解析システムと構造解析方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-016926   出願人：株式会社日立製作所

引用文献：

審査官引用 (1件)

• SX-5シリーズの流通アプリケーションソフトウェア