特許
J-GLOBAL ID：200903024369496990
電子部品の温度特性測定治具及びその測定治具を備えた温度特性測定装置並びに電子部品の温度特性測定方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
倉内 義朗
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-311783
公開番号（公開出願番号）：特開2003-121484
出願日： 2001年10月09日
公開日（公表日）： 2003年04月23日
要約：
【要約】【課題】 水晶振動子等の電子部品の温度特性の測定結果に高い信頼性が得られるようにする。【解決手段】 チャンバA内に測定対象である水晶振動子10と基準振動子11とを収容する。チャンバA内の温度をペルチェ素子6により所定温度に設定し、基準振動子11の周波数偏差がその所定温度に対応したものとなったときにスイッチングユニット8を切り換えて水晶振動子10の共振周波数の測定動作を実行し、測定結果をネットワークアナライザ3に出力する。
請求項（抜粋）：
環境温度の変化に伴う電子部品の特性変化を測定するために使用される測定治具であって、測定対象電子部品を収容するための測定空間と、上記測定空間内の温度を任意に調整可能な温度調整手段と、上記測定空間内において、測定対象電子部品と同様の収容状態に置かれていると共に環境温度に応じて特性が変化する基準電子部品とを備え、上記基準電子部品の特性を測定し、その測定結果である特性に対応する環境温度を測定対象電子部品の環境温度と認識して、この認識した環境温度に関連付けて測定対象電子部品の特性測定動作を実行するよう構成されていることを特徴とする電子部品の温度特性測定治具。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 29/22 B
, G01R 31/00
2G036AA18
, 2G036AA28
, 2G036BB22
審査官引用 (5件)
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特開平2-052263
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特開昭53-112058
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低高温電気特性測定方法および装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平9-302570
出願人：日本電気株式会社
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