特許

J-GLOBAL ID：200903024389138721

組成分析

発明者： リューカセン,ヘルハルデュス ダブリュ ,  ヘンドリクス,ローベルト エフ エム ,  ファン デル フォールト,マルヨーレイン ,  ピューペルス,ヘルウィン ジェイ
出願人/特許権者： コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ
代理人 (3件)： 伊東 忠彦 ,  大貫 進介 ,  伊東 忠重
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-557990
公開番号（公開出願番号）：特表2004-529321
出願日： 2002年01月16日
公開日（公表日）： 2004年09月24日
要約：

分析装置、特に分光分析装置は、励起ビームを放射して励起期間中ターゲット領域を励起する励起システムを備える。分析装置は、さらに、監視ビームを放射して監視期間中ターゲット領域を画像化する監視システムが備える。ターゲット領域の監視が励起期間中に維持されるよう、監視期間と励起期間は実質的に重複される。分析装置は、さらに、励起システムを制御してターゲット領域に励起ビームを向けるトラッキングシステムを備える。

請求項（抜粋）：

励起ビームを放射して励起期間中ターゲット領域を励起する励起システム; 監視ビームを放射して監視期間中前記ターゲット領域を画像化する監視システム; 前記励起システムを制御して、前記ターゲット領域に前記励起ビームを向けるトラッキングシステム; からなる分析装置、特に分光分析装置であって、前記監視期間と前記励起期間は実質的に重複することを特徴とする分析装置。

IPC (3件)：

G01N21/65 ,  A61B5/15 ,  A61B10/00

FI (3件)：

G01N21/65 ,  A61B10/00 E ,  A61B5/14 300Z

Fターム (20件)：

2G043BA16 ,  2G043EA03 ,  2G043FA01 ,  2G043FA02 ,  2G043GA01 ,  2G043GB01 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA07 ,  2G043HA08 ,  2G043HA09 ,  2G043JA02 ,  2G043KA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043KA05 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043LA03 ,  4C038TA10

引用特許：

審査官引用 (4件)

• レーザ走査型顕微鏡
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-283210   出願人：オリンパス光学工業株式会社
• レーザ走査型顕微鏡及びレーザ走査光学系の調整方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-057341   出願人：株式会社ニコン
• 毛管内容物のラマン散乱を使用する自動化される光学アラインメント装置及び方法
  公報種別：公表公報   出願番号：特願平8-528607   出願人：ベックマンインスツルメンツインコーポレーテッド
• 走査型サイトメータ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-266626   出願人：オリンパス光学工業株式会社