特許
J-GLOBAL ID：200903024428302186
クロマトグラフ/質量分析装置のデータ処理装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
野口 繁雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-160861
公開番号（公開出願番号）：特開平9-318599
出願日： 1996年05月31日
公開日（公表日）： 1997年12月12日
要約：
【要約】【課題】 定量パラメータとSIMパラメータを自動的に設定できるようにする。【解決手段】 スキャンモードでの標準試料の測定によりトータルイオンクロマトグラムが得られると、ピーク同定部6はピークトップでのマススペクトル対し、データベースのマススペクトル情報を使ってスペクトル検索を行ない、そのピークがどのターゲット化合物であるかを同定する。定量テーブル作成部8は、ピーク同定部6によるピーク同定の結果得られたターゲット化合物のピークについてのトータルイオンクロマトグラムでの標準保持時間、データベースに記憶された定量用質量数及び確認用質量数、並びに定量パラメータに記憶された各パラメータをもとにして定量テーブルを作成する。SIMパラメータ作成部10は、トータルイオンクロマトグラムに基づいて、選択イオンモニタリングモードでの各ターゲット化合物の定量用質量数及び確認用質量数での測定を行なうのに必要なSIMパラメータを決定する。
請求項（抜粋）：
各ターゲット化合物の名称、マススペクトル、定量用質量数及び確認用質量数を含むデータベースと、検量線作成時のポイント数を示すレベル数、各レベルの濃度、検量法、回帰式の種類、保持時間の許容範囲、定量用質量数でのピークと確認用質量数でのピークとの強度比の許容範囲及び波形処理範囲を含む定量パラメータとを記憶しておく記憶部と、標準試料を測定したときのクロマトグラフ/質量分析装置のスキャンモードでのデータからトータルイオンクロマトグラムを作成し、そのトータルイオンクロマトグラムのピークのピークトッブのマススペクトルを前記データベースのマススペクトルと比較して定量しようとするターゲット化合物のピークを探しだすピーク同定部と、ピーク同定部によるピーク同定の結果得られたターゲット化合物のピークについての前記トータルイオンクロマトグラムでの標準保持時間、前記データベースに記憶された定量用質量数及び確認用質量数、並びに前記定量パラメータに記憶された各パラメータをもとにして定量テーブルを作成する定量テーブル作成部と、前記トータルイオンクロマトグラムに基づいて、選択イオンモニタリングモードでの各ターゲット化合物の定量用質量数及び確認用質量数での測定を行なうのに必要なパラメータを決定するSIMパラメータ作成部と、を備えたことを特徴とするクロマトグラフ/質量分析装置のデータ処理装置。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01N 27/62 C
, G01N 27/62 X
, G01N 30/86 G
