特許
J-GLOBAL ID：200903024531985674
測量システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
松浦 孝
, 小倉 洋樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-182028
公開番号（公開出願番号）：特開2004-085551
出願日： 2003年06月26日
公開日（公表日）： 2004年03月18日
要約：
【課題】測設測量における作業効率を向上させる。【解決手段】デジタルカメラにより測設点Q1〜Q7を含む測量現場の概観画像を撮影する。概観画像上において基準点P1〜P3を指定し、測量機により基準点P1〜P3の位置を測量する。測量された基準点の実空間上の位置と、基準点の概観画像上の位置とから、デジタルカメラの測量機に対する位置・傾きを求める。測設点の位置データから概観画像上に測設点Q1〜Q7を表示する。杭打作業者は概観画像を参照して探索する測設点Q2の近くでターゲットTを保持する。ターゲットTの位置を測量し概観画像上にその位置を表示する。ターゲットと測設点Q2の距離(500)を表示するとともに、その移動方向を矢印で表示する。測設が終了した測設点Q1は、色を変えて表示する。【選択図】 図7
請求項（抜粋）：
測点の測量情報が基準とする座標系と測設点を含む測量現場の概観画像との間の位置関係を算出する位置関係算出手段と、
前記位置関係から、前記測設点の3次元的な位置情報を、それぞれ対応する前記概観画像上の2次元的な位置情報に対応付ける対応付手段と、
前記対応付手段の対応付けに基づいて、前記測設点の位置を前記概観画像上に重畳して出力する画像出力手段と
を備えることを特徴とする測量システム。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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