特許
J-GLOBAL ID:200903024662323383

ガスサンプリング装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 藤本 英夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-058091
公開番号(公開出願番号):特開平8-226879
出願日: 1995年02月21日
公開日(公表日): 1996年09月03日
要約:
【要約】【目的】 排ガスを最低限希釈して採取しながらも排ガス中に含まれる成分を精度よく測定することができるようにした安価なガスサンプリング装置を提供すること。【構成】 排ガス源2から排出される排ガスGを希釈し、この希釈されたガスを定容量採取装置1によって吸引するとともに、定容量採取装置1から分岐したガスサンプリング流路7に吸引ポンプ9および流量制御装置10を介してサンプルバッグ11を設けたガスサンプリング装置において、前記サンプルバッグ11に至るまでのガスサンプリング流路7を、それを通過するガスが凝縮しない程度に加熱している。
請求項(抜粋):
排ガス源から排出される排ガスを希釈し、この希釈されたガスを定容量採取装置によって吸引するとともに、定容量採取装置から分岐したガスサンプリング流路に吸引ポンプおよび流量制御装置を介してサンプルバッグを設けたガスサンプリング装置において、前記サンプルバッグに至るまでのガスサンプリング流路を、それを通過するガスが凝縮しない程度に加熱したことを特徴とするガスサンプリング装置。
IPC (2件):
G01N 1/22 ,  G01N 1/24
FI (4件):
G01N 1/22 G ,  G01N 1/22 M ,  G01N 1/22 Q ,  G01N 1/24
引用特許:
審査官引用 (2件)

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