特許

J-GLOBAL ID：200903024735500947

含硫黄有機分子自己組織化膜の動的接触角の測定方法

発明者： 玉田 薫 ,  安部 浩司
出願人/特許権者： 工業技術院長
代理人 (1件)： 工業技術院物質工学工業技術研究所長
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-075133
公開番号（公開出願番号）：特開平10-267824
出願日： 1997年03月27日
公開日（公表日）： 1998年10月09日
要約：

【要約】【課題】 片面だけに含硫黄有機分子SAM膜を有する固体平面基板の接触角をウィルヘルミ・プレート法によって精度良く測定しうる方法を提供する。【解決手段】 マイカ基板の片面に金属又は半導体の薄膜を形成し、その上に含硫黄有機分子の自己組織化単分子膜を浸漬法又は気化吸着法により被覆し、次いでマイカ基板のマイカ露出面をへき開して、片面が自己組織化単分子膜被覆のマイカ基板を調製し、このマイカ基板の自己組織化単分子膜の動的接触角をウィルヘルミ・プレート法で測定する動的接触角の測定方法。

請求項（抜粋）：

マイカ基板の片面に金属又は半導体の薄膜を形成し、その上に含硫黄有機分子の自己組織化単分子膜を浸漬法又は気化吸着法により被覆し、次いでマイカ基板のマイカ露出面をへき開して、片面が自己組織化単分子膜被覆のマイカ基板を調製し、このマイカ基板の自己組織化単分子膜の動的接触角をウィルヘルミ・プレート法で測定することを特徴とする動的接触角の測定方法。

IPC (3件)：

G01N 13/00 ,  G01N 1/28 ,  G01N 13/02

FI (4件)：

G01N 13/00 ,  G01N 13/02 ,  G01N 1/28 N ,  G01N 1/28 G