特許
J-GLOBAL ID:200903024897810079

基板処理装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 吉田 茂明 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-159242
公開番号(公開出願番号):特開平9-005691
出願日: 1995年06月26日
公開日(公表日): 1997年01月10日
要約:
【要約】【目的】 高温の薬液や精密な温度調節が必要な薬液、また、高濃度の薬液を用いる処理を行ってもスループットの低下を防止するとともに、省スペースで良好な洗浄を達成すること。【構成】 基板WFに薬液処理を施す少なくとも1つの薬液槽CBと、薬液槽CBで処理を施された基板WFに薬液処理、水洗処理、及び乾燥処理の内少なくとも2つを施す多機能槽OBとを備える。このため、高温状態で使用する薬液や精密な温度調節が必要な薬液、高濃度の状態で使用する薬液を用いる処理では薬液槽CBを用い、その他の薬液を用いる処理では多機能槽OBを用いることができるので、スループットの低下を防止できるとともに、省スペースで良好な洗浄を達成できる。
請求項(抜粋):
基板に所定の薬液処理を施す少なくとも1つの薬液専用処理槽と、前記薬液専用処理槽にて薬液処理を施された基板に薬液処理、水洗処理及び乾燥処理のうちの少なくとも2つを施す多機能処理槽とを備えることを特徴とする基板処理装置。
IPC (4件):
G02F 1/13 101 ,  B01J 19/00 ,  H01L 21/027 ,  H01L 21/306
FI (4件):
G02F 1/13 101 ,  B01J 19/00 K ,  H01L 21/30 572 B ,  H01L 21/306 J
引用特許:
審査官引用 (10件)
  • 洗浄装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平3-285164   出願人:東京エレクトロン株式会社
  • 特開平4-372129
  • 特開平1-164039
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