熱量計設置雰囲気の制御方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：深井敏和
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-201916
公開番号（公開出願番号）：特開2003-014674
出願日： 2001年07月03日
公開日（公表日）： 2003年01月15日
要約：

【要約】【課題】室温以下の温度での熱量測定が可能で、かつ結露による電気系統の漏電トラブルや断熱材の断熱性能低下が生じない熱量計設置雰囲気の制御方法を提供することである。【解決手段】加熱部4および断熱材保温部6等を恒温槽15の内部に格納し、恒温槽15内部の雰囲気温度を試料2の熱量測定温度以下に制御し、かつ断熱熱量計1内の少なくとも加熱部4および断熱材保温部6の表面温度を露点よりも高い温度に保つ。

請求項（抜粋）：

熱量計内の少なくとも加熱部および断熱材保温部の表面温度を露点よりも高い温度に保つことを特徴とする熱量計設置雰囲気の制御方法。

IPC (3件)：

G01N 25/00 , G01N 25/20 , G05D 23/00

FI (3件)：

G01N 25/00 P , G01N 25/20 Z , G05D 23/00 H

Fターム (15件)：

2G040EB01 , 2G040EB06 , 2G040EC01 , 2G040EC06 , 2G040GA03 , 5H323AA29 , 5H323AA38 , 5H323BB07 , 5H323BB20 , 5H323CA02 , 5H323CB02 , 5H323CB25 , 5H323DA01 , 5H323QQ05 , 5H323RR06

引用特許：

審査官引用 (10件)

示差走査熱量計の炉体ユニット
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-056957 出願人：理学電機株式会社
分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-259334 出願人：株式会社島津製作所
特開昭56-082436

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