特許
J-GLOBAL ID:200903025304982150
地山改良体の出来上り形状の推定方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
松本 雅利
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-040110
公開番号(公開出願番号):特開2000-240049
出願日: 1999年02月18日
公開日(公表日): 2000年09月05日
要約:
【要約】【課題】 改良体の出来上り形状に関する信頼性の高い推定情報を得ること。【解決手段】 直径Dxを推定する際には、電極取付体14を設置する。取付体14は、電流電極PIと電位電極PVとを備えている。演算手段20は、電流電極PI間に電流Iを流したときの、電位差Vから改良体12の単位長さ当たりの実測抵抗値Rrealを求める。一方、予め、複数種の改良体の比抵抗ρ1と地山の比抵抗ρ2と基づいて二次元軸対称有限要素法により、比抵抗ρ1,ρ2の比をファクターとして、模擬改良体の単位長さ当たりの抵抗値Rと直径Dとの関係が求められ。改良体12の実測比抵抗ρ1realと、地山10の実測比抵抗ρ2realとが、得られると、これらの比から、比抵抗ρ1,ρ2の比であるファクターが選定され、これにより模擬改良体の抵抗値Rと直径Dとの関係が特定され、この関係に、実測抵抗値Rrealを照合すると、直径Dxを推定することができる。
請求項(抜粋):
地山中に造成された改良体の長手方向に沿って設置される電極取付体と、前記電極取付体の長手方向に沿って所定の間隔を隔てて取付けられた一対の電流電極と、この電流電極間に所定の間隔を隔てて設置された一対の電位電極と、前記電流電極間に所定の電流を流したときに、前記電位電極間の電位差を検出して、前記改良体の単位長さ当たりの実測抵抗値を求める演算手段とを備え、複数種の地山および模擬改良体のそれぞれの比抵抗に基づいて、二次元軸対称有限要素法により、前記比抵抗の比をファクターとして、前記模擬改良体の単位長さ当たりの抵抗値と直径との関係を予め求め、前記地山および改良体の実測比抵抗から前記ファクターを選定し、前記実測抵抗値を、前記模擬改良体の単位長さ当たりの抵抗値と直径との関係に照合することにより、造成された前記改良体の直径を推定することを特徴とする地山改良体の出来上り形状の推定方法。
IPC (4件):
E02D 3/12 101
, G01B 7/28
, G01N 27/04
, G01N 33/24
FI (4件):
E02D 3/12 101
, G01B 7/28 A
, G01N 27/04 Z
, G01N 33/24 D
Fターム (23件):
2D040AB03
, 2D040AC05
, 2D040BB09
, 2D040BD05
, 2D040CA01
, 2D040CB03
, 2D040GA02
, 2F063AA19
, 2F063AA41
, 2F063BA30
, 2F063DA05
, 2F063FA10
, 2F063KA01
, 2G060AA14
, 2G060AE40
, 2G060AF02
, 2G060AF07
, 2G060AG11
, 2G060EA06
, 2G060EA07
, 2G060HA01
, 2G060HC10
, 2G060KA09
引用特許:
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