特許
J-GLOBAL ID:200903025392469204
構造物表面のひび割れ検出方法
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
久寶 聡博
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-355823
公開番号(公開出願番号):特開2006-162477
出願日: 2004年12月08日
公開日(公表日): 2006年06月22日
要約:
【課題】 コンクリート等の構造物表面に染みや汚れが付着していても、構造物表面に生じているひび割れを明瞭に把握する。【解決手段】本発明に係る構造物表面のひび割れ検出方法は、コンクリート構造物の表面を撮像した原画像データに対し、ウェーブレット変換を用いて低周波成分を除去する処理を行うことにより、空間変化率が小さい構造物表面の染みや汚れを除去した二値化画像データを作成するとともに、かかる二値化画像データを用いて原画像データを広義の意味で線形補間する、すなわち、ひび割れに該当する画素を隣接する画素の平均輝度値で置換することによって背景画像データを作成し、かかる背景画像データで原画像を除算することにより、染みや汚れあるいは光ムラを確実に除去しながら、ひび割れだけを明瞭に抽出することができる。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
構造物表面を撮像して原画像データとし、該原画像データに対してウェーブレット変換を用いることにより前記原画像データから低周波成分が除去された1次画像処理データを作成し、該1次画像処理データを二値化処理して二値化画像データを作成し、該二値化画像データに分布する複数の黒画素で形成される領域をひび割れ領域として特定するとともに該ひび割れ領域内に属する黒画素のうち、所定位置の黒画素と同一の箇所に位置する原画像データの画素を処理対象画素とし、前記所定位置の黒画素に隣接する隣接画素が白画素である比率を算出し、該比率が基準比率以上であるとき、該白画素と同一の箇所に位置する原画像データの画素について平均輝度値を算出して該平均輝度値で前記処理対象画素の輝度値を置換処理するとともに前記二値化画像データにおける前記所定位置の黒画素を白画素に変換し、前記ひび割れ領域内のすべての黒画素が白画素に変換されるまで前記置換処理を繰り返し行うことによって、前記原画像データからひび割れが除去されたひび割れ除去画像データを作成してこれを背景画像データとし、前記原画像データを前記背景画像データで除して3次画像処理データを作成し、該3次画像処理データを二値化処理してひび割れ検出画像データを作成することを特徴とする構造物表面のひび割れ検出方法。
IPC (5件):
G01N 21/88
, G01B 11/30
, G06T 1/00
, G06T 7/00
, G01B 11/24
FI (6件):
G01N21/88 J
, G01N21/88 Z
, G01B11/30 A
, G06T1/00 300
, G06T7/00 200A
, G01B11/24 K
Fターム (62件):
2F065AA22
, 2F065AA49
, 2F065BB01
, 2F065CC14
, 2F065FF01
, 2F065FF04
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065QQ00
, 2F065QQ04
, 2F065QQ34
, 2F065QQ42
, 2F065RR03
, 2G051AA90
, 2G051AB03
, 2G051CA04
, 2G051EA11
, 2G051EA12
, 2G051EA16
, 2G051EA17
, 2G051EC03
, 2G051ED03
, 2G051ED07
, 2G051ED15
, 5B057AA20
, 5B057BA02
, 5B057BA29
, 5B057CA02
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CB02
, 5B057CB06
, 5B057CB12
, 5B057CB16
, 5B057CC01
, 5B057CE02
, 5B057CE12
, 5B057CE20
, 5B057DA08
, 5B057DB02
, 5B057DB05
, 5B057DB09
, 5B057DC14
, 5B057DC22
, 5L096AA02
, 5L096AA03
, 5L096AA06
, 5L096BA03
, 5L096BA08
, 5L096BA18
, 5L096CA02
, 5L096CA14
, 5L096EA02
, 5L096EA05
, 5L096EA43
, 5L096EA45
, 5L096FA26
, 5L096FA32
, 5L096FA54
, 5L096GA51
, 5L096GA59
引用特許:
出願人引用 (2件)
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特許第3494429号
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画像処理によるひび割れの計測方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-019536
出願人:株式会社大林組, 学校法人早稲田大学
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