光ディスクの検査測定装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：松隈秀盛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-037582
公開番号（公開出願番号）：特開2000-234999
出願日： 1999年02月16日
公開日（公表日）： 2000年08月29日
要約：

【要約】【課題】測定時間を短縮することができ、製造ライン中に組み込むことが可能で、かつ簡便な構成である光ディスクの検査測定装置を提供する。【解決手段】被測定光ディスク10を回転駆動する回転駆動手段2,3と、被測定光ディスク10上に光ビームLFを照射する発光部LDと、被測定光ディスク10で反射した光ビームLRを受光検出する光学検出部D1,D2と、この光学検出部D1,D2で受光検出した信号を演算して所定の信号を形成する演算処理部4,5とを備え、発光部が被測定光ディスク10の半径方向Rに配置された複数の発光素子LDから構成され、各発光素子LDから順次光ビームが被測定光ディスク10に照射される光ディスクの検査測定装置1を構成する。

請求項（抜粋）：

被測定光ディスクを回転駆動する回転駆動手段と、上記被測定光ディスク上に光ビームを照射する発光部と、上記被測定光ディスクで反射した上記光ビームを受光検出する光学検出部と、上記光学検出部で受光検出した信号を演算して所定の信号を形成する演算処理部とを備え、上記発光部が、上記被測定光ディスクの半径方向に配置された複数の発光素子から構成され、各発光素子から順次上記光ビームが上記被測定光ディスクに照射されることを特徴とする光ディスクの検査測定装置。

IPC (4件)：

G01N 21/23 , G01B 11/26 , G11B 7/004 , G01B 11/30

FI (4件)：

G01N 21/23 , G01B 11/26 , G11B 7/00 626 Z , G01B 11/30 A

Fターム (52件)：

2F065AA31 , 2F065AA45 , 2F065AA49 , 2F065BB03 , 2F065BB16 , 2F065CC03 , 2F065DD06 , 2F065FF09 , 2F065FF49 , 2F065GG06 , 2F065GG14 , 2F065HH12 , 2F065HH14 , 2F065JJ01 , 2F065JJ05 , 2F065JJ09 , 2F065JJ16 , 2F065LL30 , 2F065LL36 , 2F065LL37 , 2F065MM04 , 2F065MM12 , 2F065NN01 , 2F065NN02 , 2F065NN20 , 2F065PP13 , 2F065QQ00 , 2F065QQ03 , 2F065QQ23 , 2F065QQ26 , 2F065SS03 , 2F065SS13 , 2F065TT02 , 2G059AA05 , 2G059BB15 , 2G059EE04 , 2G059GG01 , 2G059GG02 , 2G059GG03 , 2G059JJ19 , 2G059JJ20 , 2G059JJ22 , 2G059KK01 , 2G059MM09 , 5D090AA01 , 5D090CC18 , 5D090DD03 , 5D090DD05 , 5D090EE18 , 5D090HH03 , 5D090JJ01 , 5D090LL05

引用特許：

審査官引用 (8件)

円盤状記録媒体の疵検出方法および疵検出装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-234725 出願人：出光マテリアル株式会社
5(E),8(Z),11(Z)-テトラデカトリエン-2-オンの製造方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-257319 出願人：長谷川香料株式会社
特開平4-340447

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