特許
J-GLOBAL ID:200903025559162025
3次元形状計測方法、3次元形状計測装置、プログラム、および記録媒体
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
秋田 収喜
, 近野 恵一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-112495
公開番号(公開出願番号):特開2004-317332
出願日: 2003年04月17日
公開日(公表日): 2004年11月11日
要約:
【課題】撮影物体の3次元形状の計測において、対応点マッチング処理を必要としない距離の抽出を行うことによって対応点マッチングに起因して発生する誤計測の問題を解決する。【解決手段】所定の位置で撮影された第1の画像を入力する第1のステップと、前記所定の位置と水平方向に離れた位置から撮影された第2の画像を入力する第2のステップと、前記第1の画像と前記第2の画像の差分を求める第3のステップと、差分がない領域を遠景、差分がある領域およびその近傍領域を近景とする第4のステップとにより3次元形状計測を行う。これによってパッシブ型計測方法の利点を有しながら信頼性も高い3次元形状計測方法および3次元形状計測装置が提供できる。【選択図】 図2
請求項(抜粋):
所定の位置で撮影された第1の画像を入力する第1のステップと、
前記所定の位置と水平方向に離れた位置から撮影された第2の画像を入力する第2のステップと、
前記第1の画像と前記第2の画像の差分を求める第3のステップと、
差分がない領域を遠景、差分がある領域およびその近傍領域を近景とする第4のステップと
を有することを特徴とする3次元形状計測方法。
IPC (3件):
G01B11/24
, G06T1/00
, G06T7/60
FI (3件):
G01B11/24 K
, G06T1/00 315
, G06T7/60 180B
Fターム (30件):
2F065AA06
, 2F065AA53
, 2F065BB05
, 2F065CC14
, 2F065DD02
, 2F065FF04
, 2F065FF05
, 2F065FF09
, 2F065JJ03
, 2F065JJ05
, 2F065JJ26
, 2F065QQ06
, 2F065QQ17
, 2F065QQ24
, 2F065QQ25
, 2F065QQ28
, 2F065QQ34
, 2F065QQ42
, 2F065UU05
, 5B057BA02
, 5B057CA13
, 5B057CA16
, 5B057DA06
, 5B057DB03
, 5B057DC09
, 5B057DC32
, 5L096AA09
, 5L096CA05
, 5L096FA66
, 5L096GA08
引用特許:
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